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1. (WO2004100270) DETECTEUR DE RAYONS X A ECRAN PLAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/100270    N° de la demande internationale :    PCT/IB2004/050600
Date de publication : 18.11.2004 Date de dépôt international : 05.05.2004
CIB :
H01L 27/146 (2006.01), H01L 31/105 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
BIJLSMA, Sipke, J. [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : BIJLSMA, Sipke, J.; (NL)
Mandataire : COHEN, Julius, S.; Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
03101298.2 09.05.2003 EP
Titre (EN) FLAT PANEL X-RAY DETECTOR
(FR) DETECTEUR DE RAYONS X A ECRAN PLAT
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a flat panel X-ray detector comprising an array of sensor elements (3, 4) for converting X-ray radiation into electrical signals, said sensor elements containing at least one semiconductor diode having at least one sidewall where leakage current can occur, if said detector is connected to a voltage supply. It is an object of the invention to reduce the leakage current. This object is achieved by providing at least one influencing electrode (2, 14) adapted for influencing electric fields at said sidewall (10) for reducing the leakage current.
(FR)L'invention concerne un détecteur de rayons X à écran plat qui comprend un réseau d'éléments capteurs (3, 4) pour convertir des rayons X en signaux électriques. Ces éléments capteurs contiennent au moins une diode semi-conductrice avec au moins une paroi latérale par où un courant de fuite peut passer si le détecteur est connecté à une alimentation en tension. L'objet de l'invention est de réduire le courant de fuite. Cet objet est atteint par au moins une électrode (2, 14) conçue pour influencer les champs électriques au niveau de la paroi latérale (10) de façon à réduire le courant de fuite.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)