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1. WO2004099712 - SYSTEME A REALITE ACCRUE POUR NANOMANIPULATION EN TEMPS REEL UTILISANT LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE

Numéro de publication WO/2004/099712
Date de publication 18.11.2004
N° de la demande internationale PCT/US2004/010687
Date du dépôt international 07.04.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 01.12.2004
CIB
G01Q 30/04 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
30Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
04Dispositifs d'affichage ou de traitement de données
G01Q 60/24 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
CPC
G01Q 30/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
04Display or data processing devices
Y10S 977/85
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
977Nanotechnology
84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
849with scanning probe
85Scanning probe control process
Y10S 977/855
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
977Nanotechnology
84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
849with scanning probe
855for manufacture of nanostructure
Déposants
  • BOARD OF TRUSTEES OPERATING MICHIGAN STATE UNIVERSITY [US]/[US] (AllExceptUS)
  • XI, Ning [US]/[US] (UsOnly)
  • FUNG, Wai-Keung [CN]/[CN] (UsOnly)
  • YU, Mengmeng [US]/[US] (UsOnly)
  • LI, Guangyong [US]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • XI, Ning
  • FUNG, Wai-Keung
  • YU, Mengmeng
  • LI, Guangyong
Mandataires
  • FALCOFF, Monte, L.
Données relatives à la priorité
10/428,57802.05.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) NANOMANIPULATION ON A SAMPLE SURFACE USING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
(FR) SYSTEME A REALITE ACCRUE POUR NANOMANIPULATION EN TEMPS REEL UTILISANT LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE
Abrégé
(EN)
An improved method is provided for performing nanomanipulations using an atomic force microscope. The method includes: performing a nanomanipulation operation on a sample surface using an atomic force microscope; determining force data for forces that are being applied to the tip of the cantilever during the nanomanipulation operation, where the force data is derived along at least two perpendicularly arranged axis; and updating a model which represents the topography of the sample surface using the force data.
(FR)
L'invention concerne un procédé amélioré pour mettre en oeuvre des nanomanipulations à l'aide d'un microscope à force atomique. Le procédé comporte les étapes consistant à : effectuer une opération de nanomanipulation sur une surface d'échantillon au moyen du microscope à force atomique ; déterminer des données de forces relatives aux forces appliquées sur la pointe de l'élément en porte-à-faux pendant l'opération de nanomanipulation, lesdites données étant calculées sur au moins deux axes perpendiculaires ; et mettre à jour un modèle représentant la topographie de la surface d'échantillon à l'aide des données de forces.
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