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1. (WO2004099712) SYSTEME A REALITE ACCRUE POUR NANOMANIPULATION EN TEMPS REEL UTILISANT LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/099712    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/010687
Date de publication : 18.11.2004 Date de dépôt international : 07.04.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    01.12.2004    
CIB :
G01Q 30/04 (2010.01), G01Q 60/24 (2010.01)
Déposants : BOARD OF TRUSTEES OPERATING MICHIGAN STATE UNIVERSITY [US/US]; 246 Administration Building, East Lansing, MI 48824-1046 (US) (Tous Sauf US).
XI, Ning [US/US]; (US) (US Seulement).
FUNG, Wai-Keung [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
YU, Mengmeng [US/US]; (US) (US Seulement).
LI, Guangyong [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : XI, Ning; (US).
FUNG, Wai-Keung; (CN).
YU, Mengmeng; (US).
LI, Guangyong; (US)
Mandataire : FALCOFF, Monte, L.; Harness, Dickey & Pierce, P.L.C., P.O. Box 828, Bloomfield Hills, MI 48303 (US)
Données relatives à la priorité :
10/428,578 02.05.2003 US
Titre (EN) NANOMANIPULATION ON A SAMPLE SURFACE USING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
(FR) SYSTEME A REALITE ACCRUE POUR NANOMANIPULATION EN TEMPS REEL UTILISANT LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An improved method is provided for performing nanomanipulations using an atomic force microscope. The method includes: performing a nanomanipulation operation on a sample surface using an atomic force microscope; determining force data for forces that are being applied to the tip of the cantilever during the nanomanipulation operation, where the force data is derived along at least two perpendicularly arranged axis; and updating a model which represents the topography of the sample surface using the force data.
(FR)L'invention concerne un procédé amélioré pour mettre en oeuvre des nanomanipulations à l'aide d'un microscope à force atomique. Le procédé comporte les étapes consistant à : effectuer une opération de nanomanipulation sur une surface d'échantillon au moyen du microscope à force atomique ; déterminer des données de forces relatives aux forces appliquées sur la pointe de l'élément en porte-à-faux pendant l'opération de nanomanipulation, lesdites données étant calculées sur au moins deux axes perpendiculaires ; et mettre à jour un modèle représentant la topographie de la surface d'échantillon à l'aide des données de forces.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)