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1. (WO2004097804) METHODE ET DISPOSITIF DE MESURE DE NON-LINEARITES, DISPOSITIF DE REPRODUCTION/ENREGISTREMENT MAGNETIQUE ET LSI DE REPRODUCTION/ENREGISTREMENT MAGNETIQUE AMD
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/097804    N° de la demande internationale :    PCT/JP2003/005347
Date de publication : 11.11.2004 Date de dépôt international : 25.04.2003
CIB :
G11B 5/00 (2006.01), G11B 5/09 (2006.01)
Déposants : FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 211-8588 (JP) (Tous Sauf US).
UENO, Hiroaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : UENO, Hiroaki; (JP)
Mandataire : SANADA, Tamotsu; Kichijoji-Hirose Bldg. 5th Floor, 10-31, Kichijoji-honcho 1-chome, Musashino-shi, Tokyo 180-0004 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) NON-LINEARITY MEASURING METHOD, NON-LINEARITY MEASURING DEVICE, MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AMD MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING LSI
(FR) METHODE ET DISPOSITIF DE MESURE DE NON-LINEARITES, DISPOSITIF DE REPRODUCTION/ENREGISTREMENT MAGNETIQUE ET LSI DE REPRODUCTION/ENREGISTREMENT MAGNETIQUE AMD
(JA) 非線形性測定方法,非線形性測定装置,磁気記録再生装置および磁気記録再生用LSI
Abrégé : front page image
(EN)A non-linearity measuring method capable of measuring NLTS with a high accuracy considering the magnetic inversion state of a preceding bit string. The NLTS depending on the magnetic inversion pattern string P1 can easily and quantitatively measured by constituting a device including a first measurement section (55) for measuring a first predetermined higher harmonic component from a reproduction signal of a reference signal magnetically recorded on a medium (2), a second measurement section (56) for measuring a second predetermined higher harmonic component from the reproduction signal for each of the signals of a plurality of types magnetically recorded on the medium (2) and to be measured, and a calculation section (57) for calculating the NLTS from the first predetermined higher harmonic component and the second predetermined higher harmonic component corresponding to the respective signals to be measured, wherein the signals of the plurality of types to be measured respectively have a magnetic inversion pattern string P1 preceding the bit to be subjected to the NLTS measurement.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de non-linéarités permettant de mesurer les NLTS avec une grande précision, en tenant compte de l'état d'inversion magnétique d'une chaîne de bits précédente. Les NLTS dépendant de la chaîne à motif d'inversion magnétique P1 peuvent être mesurées facilement et quantitativement au moyen d'un dispositif comprenant : une première unité de mesure (55) conçue pour mesurer une première composante harmonique supérieure prédéterminée d'un signal de reproduction d'un signal de référence enregistré magnétiquement sur un support (2) ; une seconde unité de mesure (56) conçue pour mesurer une seconde composante harmonique supérieure du signal de reproduction pour chacun des signaux d'une pluralité de types enregistrés sur le support (2) et à mesurer ; et une unité de calcul (57) pour le calcul des NLTS à partir de la première composante harmonique prédéterminée supérieure et de la seconde composante harmonique supérieure correspondant aux signaux respectifs à mesurer, les signaux de la pluralité de types à mesurer respectivement possédant un chaîne à motif d'inversion magnétique P1 précédant le bit à soumettre à la mesure de NLTS.
(JA)先行するビット列の磁化反転状況を考慮した、より精度の高いNLTSを測定できるようにする非線形性測定方法である。 媒体(2)に磁気記録された基準信号の再生信号から第1の所定高調波成分を測定する第1測定部(55)と、媒体(2)に磁気記録された複数種類の被測定信号の各々に、その再生信号から第2の所定高調波成分を測定する第2測定部(56)と、第1の所定高調波成分と各々の被測定信号に対応する第2の所定高調波成分とからNLTSを算出する算出部(57)とをそなえ、複数種類の被測定信号が、それぞれ、NLTSの測定対象ビットに先行して磁化反転パターン列P1をそなえるように構成することにより、磁化反転パターン列P1に依存するNLTSを容易に定量的に測定することができる。
États désignés : JP, US.
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)