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1. (WO2004097732) PROCEDE ET DISPOSITIF DE COMPTAGE POUR SUBSTRATS PLANS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/097732    N° de la demande internationale :    PCT/EP2004/004049
Date de publication : 11.11.2004 Date de dépôt international : 16.04.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    31.01.2005    
CIB :
G06M 1/10 (2006.01), G06M 9/00 (2006.01)
Déposants : KBA-GIORI S.A. [CH/CH]; 4, rue de la Paix, CH-1003 Lausanne (CH) (Tous Sauf US).
DAUW, Dirk, F. [BE/CH]; (CH) (US Seulement).
SOLTERMANN, Christian [CH/CH]; (CH) (US Seulement)
Inventeurs : DAUW, Dirk, F.; (CH).
SOLTERMANN, Christian; (CH)
Mandataire : GROSFILLIER, Philippe; c/o BUGNION S.A., Case postale 375, CH-1211 Genève 12 (CH)
Données relatives à la priorité :
03009915.4 30.04.2003 EP
Titre (EN) COUNTING PROCESS AND DEVICE FOR PLANAR SUBSTRATES
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE COMPTAGE POUR SUBSTRATS PLANS
Abrégé : front page image
(EN)The process comprises the steps of: (a) loosening a pack of piled substrates; (b) taking a first image of the piled planar substrates, said image being made of a two-dimensional array of single image detectors arranged in lines and columns; (c) counting the number of edges of substrates detected; (d) statistically treating the result obtained from step (c); (e) based on the statistical treatment, determining whether the counting is accurate.
(FR)Le procédé selon l'invention comprend les étapes suivantes : (a) détacher les unes des autres les feuilles du paquet de substrats empilés ; (b) prendre une première image des substrats plans empilés, ladite image étant composée d'un réseau bidimensionnel de détecteurs image uniques, agencés en lignes et colonnes ; (c) comptage du nombre de bords de substrats détectés ; (d) traitement statistique du résultat obtenu à l'étape (c) ; (e) sur la base du traitement statistique, déterminer si le comptage est exact.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)