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1. WO2004097435 - INSTRUMENT D'EXAMEN POUR PANNEAU A CRISTAUX LIQUIDES

Numéro de publication WO/2004/097435
Date de publication 11.11.2004
N° de la demande internationale PCT/JP2004/005897
Date du dépôt international 23.04.2004
CIB
G01R 1/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
04Boîtiers; Organes de support; Agencements des bornes
G02F 1/1362 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
FDISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source lumineuse indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
133Dispositions relatives à la structure; Excitation de cellules à cristaux liquides; Dispositions relatives aux circuits
136Cellules à cristaux liquides associées structurellement avec une couche ou un substrat semi-conducteurs, p.ex. cellules faisant partie d'un circuit intégré
1362Cellules à adressage par une matrice active
CPC
G01R 1/0416
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
0416Connectors, terminals
G02F 2001/136254
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
1362Active matrix addressed cells
136254Checking; Testing
G09G 3/006
GPHYSICS
09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
3Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Déposants
  • 日本発条株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 外間 裕康 SOTOMA, Hiroyasu [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 外間 裕康 SOTOMA, Hiroyasu
Mandataires
  • 酒井 宏明 SAKAI, Hiroaki
Données relatives à la priorité
2003-12271825.04.2003JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) EXAMINING INSTRUMENT FOR LIQUID CRYSTAL PANEL
(FR) INSTRUMENT D'EXAMEN POUR PANNEAU A CRISTAUX LIQUIDES
(JA) 液晶パネル用検査装置
Abrégé
(EN)
An examining instrument for examining a liquid crystal panel (3) by bringing probe blocks (1) into contact with a conductive pattern (4) for terminals of the liquid crystal panel (3). Odd- and even-number corresponding flexible boards (5a, 5b) of flexible boards (5) provided to respective probe blocks are installed separately at respective installation positions of odd- and even-number corresponding address portions (6a, 6b) of a relay board (6) by bringing the connection ends (5A, 5B) near the odd- and even-number corresponding address portions (6a, 6b) and connecting them. Thus, the connection wires (15) between the connection ends (5A, 5B) and the odd- and even-number corresponding address portions (6a, 6b) can be reduced to a possible minimum value, and intersections of the connection wires (15) can be avoided to simplify the structure.
(FR)
Cette invention se rapporte à un instrument d'examen qui permet d'examiner un panneau à cristaux liquides (3) en amenant des blocs sondes (1) en contact avec un tracé conducteur (4) pour les bornes du panneau à cristaux liquides (3). Des cartes souples (5a, 5b) correspondant à des nombres pairs et impairs parmi des cartes souples prévues pour des blocs sondes respectifs sont installées séparément dans des positions d'installation respectives de parties d'adresse (6a, 6b) de nombres pairs et impairs d'une carte à relais (6), en amenant les extrémités de connexion (5A, 5B) proches des parties d'adresse (6a, 6b) correspondant à des nombres pairs et impairs et en les connectant. Ainsi, les fils de connexion (15) entre les extrémités de connexion (5a, 5b) et les parties d'adresse (6a, 6b) correspondant à des nombres pairs et impairs peuvent être réduits à une valeur minimum possible, et les intersections des fils de connexion (15) peuvent être évitées, ce qui simplifie la structure.
(JA)
複数個のプローブブロック(1)を液晶パネル(3)の端子用導電パターン(4)に当接させて検査を行う液晶パネル用検査装置において、プローブブロック(1)の各々に設けられる各フレキシブル基板(5)毎に、奇数および偶数対応フレキシブル基板(5a)および(5b)を、中継基板(6)内の奇数および偶数対応アドレス部(6a)および(6b)の設置位置に応じて相互に振り分けて、その各接続端部(5A)、(5B)をそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部(6a)および(6b)に漸近させて接続する。これによりフレキシブル基板(5)の各接続端部(5A)、(5B)と奇数および偶数対応アドレス部(6a)および(6b)との接続配線(15)を極力短く設定することができると共に接続配線(15)の交差状態の出現を避けて簡素化を図ることができる。
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