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1. (WO2004095280) SAISIE DE DONNEES DE DIAGNOSTIC DANS UN CIRCUIT INTEGRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/095280    N° de la demande internationale :    PCT/GB2003/004016
Date de publication : 04.11.2004 Date de dépôt international : 17.09.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.10.2004    
CIB :
G01R 31/317 (2006.01)
Déposants : ARM LIMITED [GB/GB]; 110 Fulbourn Road, Cherry Hinton, Cambridge CB1 9NJ (GB)
Inventeurs : KIMELMAN, Paul; (US).
FIELD, Ian; (US)
Mandataire : ROBINSON, Nigel, Alexander, Julian; D. Young & Co., 120 Holborn, London EC1N 2DY (GB)
Données relatives à la priorité :
10/417,329 17.04.2003 US
Titre (EN) DIAGNOSTIC DATA CAPTURE WITHIN AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) SAISIE DE DONNEES DE DIAGNOSTIC DANS UN CIRCUIT INTEGRE
Abrégé : front page image
(EN)An integrated circuit is provided with a diagnostic data capture and output system in the form of a diagnostic data capture circuit which captures a data word and a context word from a bus. The bus may be the functional bus connecting functional circuits within the integrated circuit or a dedicated bus linking one or more functional to circuits directly to the diagnostic data capture circuit. The diagnostic data captured is buffered within a first-in-first-out buffer and then serialised for output. The diagnostic data fields also include a time value indicative of the time at which the diagnostic data field concerned was captured and whether any diagnostic data fields have failed to be captured.
(FR)L'invention concerne un circuit intégré à système de saisie et de sortie de données de diagnostic, sous la forme de circuit de saisie de données de diagnostic saisissant un mot de données et un mot de contexte depuis un bus, lequel peut être le bus fonctionnel reliant des circuits fonctionnels dans le circuit intégré ou un bus spécialisé reliant un ou plusieurs circuits fonctionnels directement au circuit de saisie de données de diagnostic. Les données saisies sont mises en mémoire tampon dans un tampon premier entré premier sorti puis sérialisées aux fins de sortie. Les champs de données de diagnostic comprennent également un valeur de temps indiquant le moment de la saisie du champ concerné et indiquant si la saisie de certains champs a échoué.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)