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1. (WO2004095219) EVALUATION DES RISQUES DE DEFAILLANCE AU NIVEAU MONDIAL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/095219    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/006181
Date de publication : 04.11.2004 Date de dépôt international : 02.03.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    27.08.2004    
CIB :
G06Q 40/00 (2006.01)
Déposants : DUN & BRADSTREET, INC. [US/US]; 103 JFK Parkway, Short Hills, NJ 07078 (US)
Inventeurs : BARAZESH, Reza; (US)
Mandataire : GREELEY, Paul, D.; Ohlandt, Greeley, Ruggiero & Perle, LLP, One Landmark Square, 10th Floor, Stamford, CT 06901 (US)
Données relatives à la priorité :
10/397,823 26.03.2003 US
Titre (EN) GLOBAL FAILURE RISK SCORE
(FR) EVALUATION DES RISQUES DE DEFAILLANCE AU NIVEAU MONDIAL
Abrégé : front page image
(EN)A method of providing a score includes computing a base from local country failure risk scores from included countries. The base is mapped to global failure risk scores based on a probability of failure. The global failure risk scores are translated to a globally standardized score and globally standardized score is provided.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant d'effectuer une évaluation de risques, lequel consiste à calculer une base à partir d'évaluations de risques de défaillance, localement pour un pays, à partir de pays inclus. Cette base est mise en correspondance avec les évaluations des risques de défaillance au niveau mondial, sur la base d'une probabilité de défaillance. Les estimations des risques de défaillance au niveau mondial sont traduites en une évaluation normalisée au niveau mondial qui est ensuite donnée comme information.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)