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1. (WO2004095074) INVERSION SIMULTANEE POUR DES PARAMETRES D'ONDELETTES DE SOURCE ET D'AVO DE DONNEES SEISMIQUES PRE-SOMMATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/095074    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/007741
Date de publication : 04.11.2004 Date de dépôt international : 12.03.2004
CIB :
G01V 1/28 (2006.01)
Déposants : CONOCOPHILLIPS COMPANY [US/US]; P.O. Box 4783, Houston, TX 77210-4783 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : ROUTH, Partha, Sarathi; (US).
ANNO, Phil, D.; (US).
BAUMEL, Robert, T.; (US)
Mandataire : MEIER, Patricia, A.; Conocophillips Company, 600 North Dairy Ashford, Houston, TX 77079 (US)
Données relatives à la priorité :
10/404,887 01.04.2003 US
Titre (EN) APPLICATION FOR LETTERS PATENT FOR SIMULTANEOUS INVERSION FOR SOURCE WAVELET AND AVO PARAMETERS FROM PRESTACK SEISMIC DATA
(FR) INVERSION SIMULTANEE POUR DES PARAMETRES D'ONDELETTES DE SOURCE ET D'AVO DE DONNEES SEISMIQUES PRE-SOMMATION
Abrégé : front page image
(EN)The present invention provides for a method and apparatus for seismic data processing. Prestack seismic data is obtained that contains a plurality of reflectors. Non-parallel moveout of the plurality of reflectors is utilized to determine a source wavelet using an L2-Norm and a reflectivity parameter using an L1-Norm. The source wavelet and reflectivity parameters can be determined simultaneously. Source and reflectivity determination may further comprise minimization of a model objective function. The model objective function may be a function of at least one of i) said source wavelet, ii) a gradient parameter and iii) an intercept parameter. An AVO intercept and gradient parameters can be determined using the determined source wavelet and reflectivity parameter. Constraints may be placed on parameters to ensure physically realistic solutions.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour le traitement de données séismiques. On obtient des données séismiques pré-sommation comportant de nombreux réflecteurs. On utilise le delta-t non-parallèle des nombreux réflecteurs pour déterminer une ondelette de source à partir d'une norme L2 et un paramètre de pouvoir de réflexion à partir d'une norme L1. Les paramètres d'ondelette de source et de pouvoir de réflexion peuvent être déterminés simultanément. La détermination de source et de pouvoir de réflexion peut comporter en plus la minimisation d'une fonction économique de modèle. La fonction économique de modèle peut être une fonction d'au moins un des éléments suivants : i) ladite ondelette de source, ii) un paramètre de gradient et iii) un paramètre d'interception. Un paramètre d'AVO interception et un paramètre de gradient peuvent être déterminés à partir des paramètres de l'ondelette de source et du pouvoir de réflexion déterminés. On peut soumettre des paramètres à des contraintes pour assurer des solutions matériellement pratiques.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)