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1. WO2004094982 - MESURE A BALAYAGE UNIQUE DE PLUSIEURS CARACTERISTIQUES OPTIQUES

Numéro de publication WO/2004/094982
Date de publication 04.11.2004
N° de la demande internationale PCT/US2004/011675
Date du dépôt international 14.04.2004
CIB
G01M 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11Test des appareils optiques; Test des structures ou des ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
CPC
G01M 11/33
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
33with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
G01M 11/337
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
33with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
337by measuring polarization dependent loss [PDL]
Déposants
  • THORLABS, INC. [US]/[US] (AllExceptUS)
  • ANDERSON, Duwayne, R. [US]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • ANDERSON, Duwayne, R.
Mandataires
  • GARRETT, Arthur, S.
Données relatives à la priorité
10/417,74216.04.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SINGLE SWEEP MEASUREMENT OF MULTIPLE OPTICAL CHARACTERISTICS
(FR) MESURE A BALAYAGE UNIQUE DE PLUSIEURS CARACTERISTIQUES OPTIQUES
Abrégé
(EN)
A method of measuring multiple optical characteristics of an optical device during a single sweep of a swept wavelength optical system cyclically changes an input state of polarization on consecutive optical frequency increments of an optical signal within the wavelength range of the swept wavelength optical system. From the measured output states of polarization a wavelength dependent Jones matrix is calculated, and from the Jones matrix the multiple optical characteristics are determined, which characteristics may include PDL and DGD.
(FR)
L'invention concerne un procédé servant à mesurer plusieurs caractéristiques optiques d'un dispositif optique pendant un seul balayage d'un système optique à longueur d'onde balayé. Ledit procédé permet de modifier cycliquement un état d'entrée de polarisation sur des incréments de fréquence optique consécutifs d'un signal optique au sein de la fourchette de longueurs d'ondes du système optique à longueur d'onde balayé. A partir des états de sortie mesurés de polarisation, une matrice de Jones dépendant de longueur d'onde est calculée et, à partir de la matrice de Jones, sont déterminées plusieurs caractéristiques optiques qui peuvent englober une perte dépendant de la polarisation (PDL) et un retard de groupe différentiel de polarisation (DGD).
Également publié en tant que
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