(EN) A system and apparatus for use in deriving test parameters associated to a device in a DSP-based mixed-signal system are provided. A test signal is received. A signal derived from the test signal is sampled to generate a plurality of sampled signals formed of time interleaved samples of the signal derived from the test signal. Each sampled signal is processed independently to derive a respective test parameter associated to a given device in the DSP-based mixed-signal system. The test parameters associated to the plurality of sampled signals are then combined to derive a combined test parameter By time-interleaving the sampling of the signals, the measurement variance of test parameter may be improved. Alternatively, the signal derived from the test signal is sampled to generate a first signal and a second signal formed of samples taken at substantially the same time. A processing unit processes the first signal and the second signal to derive a test parameter associated to a given device in the DSP-based mixed-signal system. The simultaneous sampling of the signal allows a reduction in bias error from the measured test parameter.
(FR) L'invention concerne un système et un appareil destinés à être utilisés pour dériver des paramètres test associés à un dispositif dans un système à signaux mixtes à base de DSP. Un signal test est reçu. Un signal dérivé du signal test est échantillonné pour générer une pluralité de signaux échantillonnés formés d'échantillons entrelacés dans le temps du signal dérivé à partir du signal test. Chaque signal échantillonné est traité de façon indépendante pour dériver un paramètre test correspondant associé à un dispositif donné dans le système à signaux mixtes à base de DSP. Les paramètres test associés à la pluralité de signaux échantillonnés sont ensuite combinés pour dériver un paramètre test combiné. Par l'entrelacement de l'échantillonnage des signaux, la variance des mesures du paramètre test peut être améliorée. En variante, le signal dérivé du signal test est échantillonné pour générer un premier signal et un deuxième signal formés d'échantillons pris sensiblement au même moment. Une unité de traitement traite les premier et deuxième signaux pour dériver un paramètre test associé à un dispositif donné dans le système à signaux mixtes à base de DSP. L'échantillonnage simultané du signal permet de réduire les erreurs de justesse du paramètre test mesuré.
