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Paramétrages

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1. WO2004072668 - SYSTEME DE TEST DE DISPOSITIFS A SIGNAUX MIXTES

Numéro de publication WO/2004/072668
Date de publication 26.08.2004
N° de la demande internationale PCT/CA2004/000188
Date du dépôt international 12.02.2004
CIB
G01R 29/26 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
29Dispositions pour procéder aux mesures ou à l'indication de grandeurs électriques n'entrant pas dans les groupes G01R19/-G01R27/165
26Mesure du coefficient de bruit; Mesure de rapport signal-bruit
G01R 31/3167 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
3167Tests de circuits analogiques et numériques combinés
H03M 1/10 2006.1
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
MCODAGE, DÉCODAGE OU CONVERSION DE CODE, EN GÉNÉRAL
1Conversion analogique/numérique; Conversion numérique/analogique
10Calibrage ou tests
H03M 1/12 2006.1
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
MCODAGE, DÉCODAGE OU CONVERSION DE CODE, EN GÉNÉRAL
1Conversion analogique/numérique; Conversion numérique/analogique
12Convertisseurs analogiques/numériques
H03M 1/66 2006.1
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
MCODAGE, DÉCODAGE OU CONVERSION DE CODE, EN GÉNÉRAL
1Conversion analogique/numérique; Conversion numérique/analogique
66Convertisseurs numériques/analogiques
CPC
G01R 29/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
26Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio ; Measuring jitter, i.e. phase noise,
G01R 31/3167
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
3167Testing of combined analog and digital circuits
H03M 1/1085
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
10Calibration or testing
1071Measuring or testing
1085using domain transforms, e.g. Fast Fourier Transform
H03M 1/12
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
12Analogue/digital converters
H03M 1/66
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
66Digital/analogue converters
Déposants
  • McGILL INIVERSITY [CA]/[CA] (AllExceptUS)
  • ROBERTS, Gordon [CA]/[CA] (UsOnly)
  • TAILLEFER, Chris [CA]/[CA] (UsOnly)
Inventeurs
  • ROBERTS, Gordon
  • TAILLEFER, Chris
Mandataires
  • GEORGIEV, Stephan, P.
Données relatives à la priorité
60/447,02413.02.2003US
60/492,73106.08.2003US
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) MIXED-SIGNAL-DEVICE TESTING
(FR) SYSTEME DE TEST DE DISPOSITIFS A SIGNAUX MIXTES
Abrégé
(EN) A system and apparatus for use in deriving test parameters associated to a device in a DSP-based mixed-signal system are provided. A test signal is received. A signal derived from the test signal is sampled to generate a plurality of sampled signals formed of time interleaved samples of the signal derived from the test signal. Each sampled signal is processed independently to derive a respective test parameter associated to a given device in the DSP-based mixed-signal system. The test parameters associated to the plurality of sampled signals are then combined to derive a combined test parameter By time-interleaving the sampling of the signals, the measurement variance of test parameter may be improved. Alternatively, the signal derived from the test signal is sampled to generate a first signal and a second signal formed of samples taken at substantially the same time. A processing unit processes the first signal and the second signal to derive a test parameter associated to a given device in the DSP-based mixed-signal system. The simultaneous sampling of the signal allows a reduction in bias error from the measured test parameter.
(FR) L'invention concerne un système et un appareil destinés à être utilisés pour dériver des paramètres test associés à un dispositif dans un système à signaux mixtes à base de DSP. Un signal test est reçu. Un signal dérivé du signal test est échantillonné pour générer une pluralité de signaux échantillonnés formés d'échantillons entrelacés dans le temps du signal dérivé à partir du signal test. Chaque signal échantillonné est traité de façon indépendante pour dériver un paramètre test correspondant associé à un dispositif donné dans le système à signaux mixtes à base de DSP. Les paramètres test associés à la pluralité de signaux échantillonnés sont ensuite combinés pour dériver un paramètre test combiné. Par l'entrelacement de l'échantillonnage des signaux, la variance des mesures du paramètre test peut être améliorée. En variante, le signal dérivé du signal test est échantillonné pour générer un premier signal et un deuxième signal formés d'échantillons pris sensiblement au même moment. Une unité de traitement traite les premier et deuxième signaux pour dériver un paramètre test associé à un dispositif donné dans le système à signaux mixtes à base de DSP. L'échantillonnage simultané du signal permet de réduire les erreurs de justesse du paramètre test mesuré.
Documents de brevet associés
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