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1. WO2004064386 - COMMANDE DE FONCTION DE TRANSFERT D'UN IMAGEUR CMOS PRECIS DESTINE A IMAGER UNE GAMME DYNAMIQUE ETENDUE A L'AIDE D'IMPULSIONS DE REMISE A ZERO MULTIPLE A HAUTEUR VARIABLE

Numéro de publication WO/2004/064386
Date de publication 29.07.2004
N° de la demande internationale PCT/US2004/000223
Date du dépôt international 05.01.2004
CIB
H04N 5/355 2011.01
HÉLECTRICITÉ
04TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
NTRANSMISSION D'IMAGES, p.ex. TÉLÉVISION
5Détails des systèmes de télévision
30Transformation d'informations lumineuses ou analogues en informations électriques
335utilisant des capteurs d'images à l'état solide  
351Réglage du capteur SSIS en fonction de la scène, p.ex. luminosité ou mouvement dans la scène
355Réglage de la gamme dynamique
CPC
H04N 5/35527
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
5Details of television systems
30Transforming light or analogous information into electric information
335using solid-state image sensors [SSIS]
351Control of the SSIS depending on the scene, e.g. brightness or motion in the scene
355Control of the dynamic range
35509involving a non-linear response
35527with a response composed of multiple slopes
Déposants
  • SMAL CAMERA TECHNOLOGIES [US]/[US] (AllExceptUS)
  • LEE, Hae-Seung [KR]/[US] (UsOnly)
  • FIFE, Keith, G. [US]/[US] (UsOnly)
  • BROOKS, Lane, G. [US]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • LEE, Hae-Seung
  • FIFE, Keith, G.
  • BROOKS, Lane, G.
Mandataires
  • CONNORS, Matthew, E.__
Données relatives à la priorité
60/438,68308.01.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) PRECISE CMOS IMAGER TRANSFER FUNCTION CONTROL FOR EXPANDED DYNAMIC RANGE IMAGING USING VARIABLE-HEIGHT MULTIPLE RESET PULSES
(FR) COMMANDE DE FONCTION DE TRANSFERT D'UN IMAGEUR CMOS PRECIS DESTINE A IMAGER UNE GAMME DYNAMIQUE ETENDUE A L'AIDE D'IMPULSIONS DE REMISE A ZERO MULTIPLE A HAUTEUR VARIABLE
Abrégé
(EN)
A sense node voltage relating to light intensity incident upon a light-detecting element is measured. To realize this measurement, a first integration reset pulse (VRESBT of Figure 7) is generated to enable a resetting of the sense node voltage to a voltage value substantially equal to a reset voltage value associated with the first integration reset pulse, an edge of the first integration reset pulse triggering a beginning of a first integration period. Thereafter, a second integration reset pulse is generated to enable a resetting of the sense node voltage to a voltage value substantially equal to a reset voltage value associated with the second integration reset pulse, an edge of the second integration reset pulse triggering a beginning of a second integration period. Subsequent to the generation of the first integration reset pulse and prior to the generation of the second integration reset pulse, a plurality of intra-period reset pulses (VI, V2, and V3 of Figure 7) is generated to enable resetting of the sense node voltage to a plurality of voltage values, each voltage value being substantially equal to a reset voltage value associated with the generated intra-period reset pulse. The sense node voltage generated in response to incident light intensity is measured only once during an integration period, wherein this measurement takes place subsequent to the generation of the plurality of intra-period reset pulses and prior to the generation of the second integration reset pulse.
(FR)
Selon l'invention, une tension de noeud de détection relative à l'intensité de la lumière incidente sur un élément de détection de lumière est mesurée. Pour réaliser cette mesure, une première impulsion de remise à zéro d'intégration (V<SB>RESET</SB> de Figure 7) est produite en vue de permettre la remise à zéro de la tension du noeud de détection à une valeur de tension sensiblement égale à la valeur de tension de remise à zéro associée à la première impulsion de remise à zéro d'intégration, un contour de la première impulsion de remise à zéro d'intégration amenant au début d'une première période d'intégration. Puis, une seconde impulsion de remise à zéro d'intégration est produite afin de permettre la remise à zéro de la tension du noeud de détection à une valeur de tension sensiblement égale à la valeur de tension de remise à zéro associée à la seconde impulsion de remise à zéro d'intégration, un contour de la seconde impulsion de remise à zéro d'intégration amenant au début d'une seconde période d'intégration. Après production de la première impulsion de remise à zéro d'intégration et avant production de la seconde, plusieurs impulsions de remise à zéro internes à la période (V<sb>1, </sb>V<sb>2</sb> et V<sb>3</sb> de Figure 7) sont produites afin de permettre une remise à zéro de la tension du noeud de détection à plusieurs valeurs de tension, chaque valeur de tension étant sensiblement égale à une valeur de tension de remise à zéro associée à l'impulsion de remise à zéro interne à la période, produite. La tension du noeud de détection produite en réaction à l'intensité de la lumière incidente est mesurée uniquement une fois durant une période d'intégration, cette mesure ayant lieu après production des nombreuses impulsions de remise à zéro internes à la période et avant la production de la seconde impulsion de remise à zéro d'intégration.
Également publié en tant que
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