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1. (WO2004064332) PROGRAMME D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION, APPAREIL D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION, PROCEDE D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION ET SYSTEME D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/064332    N° de la demande internationale :    PCT/JP2003/000309
Date de publication : 29.07.2004 Date de dépôt international : 16.01.2003
CIB :
H04L 12/24 (2006.01)
Déposants : FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 211-8588 (JP) (Tous Sauf US).
MAEDA, Yoshiharu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAYAMA, Kuniharu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MAEDA, Yoshiharu; (JP).
TAKAYAMA, Kuniharu; (JP)
Mandataire : SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-6019 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) PROGRAM FOR EXAMINING LAYOUT, APPARATUS FOR EXAMINING LAYOUT, METHOD FOR EXAMINING LAYOUT AND SYSTEM FOR EXAMINING LAYOUT
(FR) PROGRAMME D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION, APPAREIL D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION, PROCEDE D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION ET SYSTEME D'ANALYSE DE PLAN D'IMPLANTATION
(JA) レイアウト調査プログラム、レイアウト調査装置、レイアウト調査方法およびレイアウト調査システム
Abrégé : front page image
(EN)A system for examining the layout comprising a section (104) for calculating the distance between oneself, i.e. one examination object (e.g. an information unit 1003) of a plurality of examination objects (information units 1001-1006), and other examination objects (information units 1001, 1002, l004-1006) arranged around the oneself using radio wave, a section (105) for generating self-centered arrangement information representative of layout conditions based on the distance from the oneself to other examination object, a section (106) for collecting other self-centered arrangement information generated on the other examination object side, and a section (107) for generating spatial arrangement information representative of the layout of the plurality of examination objects by linking the self-centered arrangement information generated at the generating section (105) with other collected self-centered arrangement information based on the distance.
(FR)L'invention concerne un système d'analyse de plan d'implantation, comprenant une section (104) conçue pour calculer la distance entre un objet d'analyse (ex. unité d'information 1003) d'une pluralité d'objets d'analyse (unités d'informations 1001-1006) et d'autres objets d'analyse (unités d'information 1001, 1002, 1004-1006) disposés autour dudit objet, au moyen d'ondes radioélectriques ; une section (105) de génération d'informations de disposition auto-centrée représentant les conditions d'implantation en fonction de la distance par rapport à l'objet d'analyse, une section (106) pour la collecte d'autres informations de disposition auto-centrée générées de l'autre côté de l'objet d'analyse ; et une section (107) de génération d'informations de disposition spatiale représentant l'implantation de la pluralité d'objets d'analyse par la liaison des informations de disposition auto-centrée générées au niveau de la section de génération (105) à d'autres informations de disposition auto-centrée basées sur la distance.
(JA)複数の調査対象(情報機器100 ~100 )のうち一つの調査対象(例えば、情報機器100 )を自己として、自己と周囲に配置された他の調査対象(情報機器100 、100 、100 ~100 )との間の距離を電波を用いて算出する距離算出部(104)と、自己を中心とする他の調査対象との距離に基づくレイアウト状況を表す自己中心配置情報を生成する自己中心配置情報生成部(105)と、他の調査対象側でそれぞれ生成された他の自己中心配置情報を収集する自己中心配置情報収集部(106)と、自己中心配置情報生成部(105)で生成された自己中心配置情報と、収集された他の自己中心配置情報とを距離に基づいて結合し、複数の調査対象のレイアウトを表す空間的配置情報を生成する空間的配置情報生成部(107)とを備えている。
États désignés : JP, US.
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)