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1. (WO2004064025) PIXEL À CMOS ACTIF COMPORTANT UNE RÉINITIALISATION À FROID ET À CHAUD
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/064025    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/000153
Date de publication : 29.07.2004 Date de dépôt international : 06.01.2004
CIB :
H04N 5/359 (2011.01), H04N 5/374 (2011.01)
Déposants : SMAL CAMERA TECHNOLOGIES [US/US]; 10 Wilson Road, 3rd Floor, Cambridge, MA 02138-1128 (US) (Tous Sauf US).
LEE, Hae-Seung [KR/US]; (US) (US Seulement).
FIFE, Keith, G. [US/US]; (US) (US Seulement).
BROOKS, Lane, Gearle [US/US]; (US) (US Seulement).
YANG, Jungwook [KR/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LEE, Hae-Seung; (US).
FIFE, Keith, G.; (US).
BROOKS, Lane, Gearle; (US).
YANG, Jungwook; (US)
Mandataire : CONNORS, Matthew, E.; Gauthier & Connors, LLP, 225 Franklin Street, Suite 3300, Boston, MA 02110 (US)
Données relatives à la priorité :
60/438,699 08.01.2003 US
Titre (EN) CMOS ACTIVE PIXEL WITH HARD AND SOFT RESET
(FR) PIXEL À CMOS ACTIF COMPORTANT UNE RÉINITIALISATION À FROID ET À CHAUD
Abrégé : front page image
(EN)A circuit for a pixel site in an imaging array includes a pixel (11 of Figure 7) to convert incident light to an electrical signal; a column or row line (23 of Figure 7) to read out a voltage from the pixel; a column or row line transistor (225 of Figure 7), operatively connected between one end of the column or row line and a predetermined voltage, to reset a voltage associated with the column or row line; and a reset voltage generator (2150 of Figure 7), operatively connected to the column or row line transistor, to generate reset pulses. The reset voltage generator (2150 of Figure 7) generates a first reset pulse at a beginning of an integration period of the pixel. The reset voltage generator (2150 of Figure 7) generates a second reset pulse after generating the first reset pulse, the generation of the second reset pulse being at an end of the integration period of the pixel. A pixel voltage of a column or row line is measured by hard resetting the column or row line voltage to a first predetermined voltage; soft resetting the column or row line voltage to a first pixel voltage; hard resetting the column or row line voltage to a second predetermined voltage; soft resetting the column or row line voltage to a second pixel voltage; and determining a difference between the first and second pixel voltages, the difference being the measured pixel voltage.
(FR)L'invention concerne un circuit pour site de pixel d'un réseau imageur, qui comprend un pixel (11, fig. 7) pour transformer la lumière incidente en signal électrique ; une ligne (23, fig. 7) colonne ou rangée pour détecter la tension du pixel ; un transistor (225, fig. 7) de ligne colonne ou rangée, connecté exploitable entre une extrémité de la ligne colonne ou rangée et une tension prédéterminée afin de réinitialiser une tension associée à la ligne colonne ou rangée ; et un générateur (2150, fig. 7) de tension de réinitialisation, connecté exploitable au transistor de ligne colonne ou rangée, pour produire des impulsions de réinitialisation. Le générateur (2150, fig. 7) de tension de réinitialisation, produit une première impulsion de réinitialisation au début d'une période d'intégration du pixel. Ledit générateur (2150, fig. 7) produit une seconde impulsion de réinitialisation après la première impulsion, à la fin d'une période d'intégration du pixel. On mesure la tension de pixel d'une ligne colonne ou rangée en mettant en oeuvre les étapes consistant à : réinitialiser à froid, à une première tension prédéterminée, la tension de la ligne colonne ou rangée ; réinitialiser à chaud, à une première tension de pixel, la tension de la ligne colonne ou rangée ; réinitialiser à froid, à une seconde tension prédéterminée, la tension de la ligne colonne ou rangée ; réinitialiser à chaud, à une seconde tension de pixel, la tension de la ligne colonne ou rangée ; et déterminer la différence entre les première et seconde tensions, cette différence étant la tension de pixel mesurée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)