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1. (WO2004063756) PROCEDE ET APPAREIL POUR DETECTER UN ETAT DE NON UTILISATION DANS UN CIRCUIT A SEMI-CONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/063756    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/041590
Date de publication : 29.07.2004 Date de dépôt international : 29.12.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    05.08.2004    
CIB :
G01N 37/00 (2006.01), G06F 19/00 (2006.01)
Déposants : EMOSYN AMERICA, INC. [US/US]; 1171 Sonora Court, Sunnyvale, CA 94086 (US)
Inventeurs : HOLLMER, Shane, C.; (US)
Mandataire : DLA PIPER RUDNICK GRAY CARY US LLP; Attn: Weller, Edward, B., 2000 University Avenue, East Palo Alto, CA 94303 (US)
Données relatives à la priorité :
10/339,218 09.01.2003 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING AN UNUSED STATE IN A SEMICONDUCTOR CIRCUIT
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR DETECTER UN ETAT DE NON UTILISATION DANS UN CIRCUIT A SEMI-CONDUCTEUR
Abrégé : front page image
(EN)An unused state detection circuit is disclosed that detects an unused state in a semiconductor circuit. A semiconductor circuit is 'unused' when the unused state detection circuit has not been permanently cleared. When a semiconductor circuit is first powered up, the unused state detection circuit will detect that the semiconductor circuit has not previously been 'used' and can automatically activate a boot up procedure or a testing procedure (or both). After the semiconductor circuit is used, the unused state detection circuit provides an indication that the semiconductor circuit is no longer unused. The unused state detection circuit uses the state of a dedicated non-volatile memory array or a dedicated region of the general non-volatile memory portion of the semiconductor circuit to detect whether the semiconductor circuit has been previously unused.
(FR)L'invention concerne un circuit de détection d'un état non utilisé, lequel détecte un état de non utilisation dans un circuit à semi-conducteurs. Un circuit à semi-conducteurs est « inutilisé » lorsque le circuit de détection d'état de non utilisation n'est pas dégagé en permanence. Lorsqu'un circuit à semi-conducteur est mis en marche en premier, le circuit de détection d'état de non utilisation peut déterminer si le circuit à semi-conducteur n'a pas été précédemment utilisé et peut automatiquement activer une procédure d'initialisation ou une procédure de test (ou les deux). Après l'utilisation du circuit à semi-conducteur, le circuit de détection d'état de non utilisation informe que le circuit à semi-conducteur n'est plus utilisé. Ledit circuit de détection d'état de non utilisation utilise l'état d'un réseau de mémoire non volatile spécifique ou une région spécifique de la partie de mémoire non volatile générale du circuit à semi-conducteur pour détecter si le circuit à semi-conducteur a été précédemment inutilisé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)