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1. (WO2004063702) PIEGE IONIQUE RECTILIGNE, SYSTEME D'ANALYSEUR DE MASSE ET PROCEDE CORRESPONDANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/063702    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/041687
Date de publication : 29.07.2004 Date de dépôt international : 31.12.2003
CIB :
H01J 49/42 (2006.01)
Déposants : PURDUE RESEARCH FOUNDATION [US/US]; 3000 Kent Avenue, West Lafayette, IN 47906 (US) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NE, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
COOKS, Robert, G. [US/US]; (US) (US Seulement).
OUYANG, Zheng [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : COOKS, Robert, G.; (US).
OUYANG, Zheng; (US)
Mandataire : TEST, Aldo, J.; Dorsey & Whitney LLP, Four Embarcadero Center, Suite 3400, San Francisco, CA 94111 (US)
Données relatives à la priorité :
60/439,350 10.01.2003 US
10/656,667 04.09.2003 US
Titre (EN) RECTILINEAR ION TRAP AND MASS ANALYZER SYSTEM AND METHOD
(FR) PIEGE IONIQUE RECTILIGNE, SYSTEME D'ANALYSEUR DE MASSE ET PROCEDE CORRESPONDANT
Abrégé : front page image
(EN)A new geometry ion trap and its use as a mass spectrometer is described. The ion traps can be combined linearly and in parallel to form systems for mass storage, analysis, fragmentation, separation, etc. of ions. The ion trap has a simple rectilinear geometry with a high trapping capacity. It can be operated to provide mass analysis in the mass-selective instability mode as well as the mass-selective stability mode. Arrays of multiple ion traps allow combinations of multiple gas-phase processes to be applied to the trapped ions to achieve high sensitivity, high selectivity and/or higher throughput in the analysis of ions.
(FR)L'invention concerne un piège ionique de géométrie nouvelle et l'utilisation de celui-ci en tant que spectromètre de masse. Selon l'invention, les pièges ioniques peuvent être combinés linéairement et parallèlement afin de former des systèmes de stockage, d'analyse, de fragmentation, de séparation etc. de la masse d'ions. Le piège ionique selon l'invention présente une géométrie rectiligne simple et une capacité de piégeage élevée. Ledit piège ionique peut effectuer une analyse de masse dans le mode instable sélectif en masse ainsi que dans le mode stable sélectif en masse. Des réseaux de plusieurs pièges ioniques permettent d'appliquer des combinaisons de plusieurs processus en phase gazeuse aux ions piégés afin d'améliorer la sensibilité, la sélectivité et/ou le débit de l'analyse ionique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)