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1. (WO2004062052) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION DE TEMPERATURE D'ELEMENT D'ACCORD THERMIQUE DANS DES DISPOSITIFS OPTIQUES ACCORDABLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/062052    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/039827
Date de publication : 22.07.2004 Date de dépôt international : 12.12.2003
CIB :
G01K 7/00 (2006.01), H01S 3/04 (2006.01), H01S 5/06 (2006.01), H01S 5/068 (2006.01), H01S 5/14 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard, Santa Clara, CA 95052 (US)
Inventeurs : SPROCK, Douglas; (US).
CARNEY, Robert; (US).
ROBERTSON, Timothy; (US)
Mandataire : MALLIE, Michael, J.; Blakely, Sokoloff, Tayor & Zafman, 7th floor, 12400 Wilshire Boulevard, Los Angeles, CA 90025 (US)
Données relatives à la priorité :
10/334,509 30.12.2002 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS TO SENSE TEMPERATURE OF THERMAL TUNING ELEMENTS IN TUNABLE OPTICAL DEVICES
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION DE TEMPERATURE D'ELEMENT D'ACCORD THERMIQUE DANS DES DISPOSITIFS OPTIQUES ACCORDABLES
Abrégé : front page image
(EN)A tunable optical unit includes a resistive temperature device (RTD), a thermal tuning device and a measurement circuit. The RTD has a resistance dependent on a temperature of the thermal tuning device. The measurement circuit outputs a signal that is dependent on the resistance of the RTD. The signal is used to control the temperature of the thermal tuning device in tuning the tunable optical unit. A reference resistance can be connected in series with the RTD to make ratio-metric measurements to determine the RTD's resistance (and hence the temperature of the tuning elements) without having to know the value of the current conducted through the RTD and to reduce sensitivity to fluctuations in the excitation signal.
(FR)L'invention concerne une unité optique réglable comprenant un dispositif résistif de température (RTD), un dispositif d'accord thermique et un circuit de mesure. Le RTD comprend une fonction de la température du dispositif d'accord thermique. Le circuit de mesure sort un signal qui dépend de la résistance du RTD. Le signal est utilisé comme moyen afin de commander la température du dispositif d'accord thermique par accord de l'unité optique réglable. Une résistance de référence peut être connectée en série au RTD pour faire des mesures à taux métriques pour déterminer la résistance du RTD (et par conséquent la température des éléments d'accord) sans devoir savoir la valeur du courant conduit par le RTD et ramener la sensibilité aux fluctuations dans le signal d'excitation.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)