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1. (WO2004061514) MICROSCOPIE A CONTRASTE DE PHASE SPECIFIQUE DE LONGUEUR D'ONDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/061514    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/041455
Date de publication : 22.07.2004 Date de dépôt international : 23.12.2003
CIB :
G02B 21/14 (2006.01)
Déposants : APPLIED PRECISION, LLC [US/US]; 1040 12th Avenue N.W., Issaquah, WA 98027 (US) (Tous Sauf US).
GOODWIN, Paul, C. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : GOODWIN, Paul, C.; (US)
Mandataire : CASTELLUCCI, Victor, J.; Pillsbury Winthrop, LLP, 11682 El Camino Real, Suite 200, Carmel Valley, CA 92130-1593 (US)
Données relatives à la priorité :
60/437,269 31.12.2002 US
10/742,507 19.12.2003 US
Titre (EN) WAVELENTH-SPECIFIC PHASE MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE A CONTRASTE DE PHASE SPECIFIQUE DE LONGUEUR D'ONDES
Abrégé : front page image
(EN)A system and method of generating and acquiring phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications. A wavelength-specific objective phase ring that is opaque only at specific wavelengths may be used in conjunction with a phase microscopy apparatus. Attenuated wavelengths may be controlled such that opacity may be selectively provided only with respect to wavelengths that are outside of the desired range for the fluorescence signals being monitored. Illumination within the opaque wavelength range for the objective phase ring may be selected for phase microscopy applications. Accordingly, an objective phase ring effective for enabling wavelength-specific phase microscopy may not interfere with normal usage of the microscope for other applications such as, for example, fluorescence microscopy.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé permettant de générer et d'acquérir des images de microscope à contraste de phase sans interférer avec l'intensité et la qualité optique d'autres modalités de microscope, qui mettent en oeuvre un éclairage spécifique de longueur d'ondes et des stratégies d'atténuation destinés à des applications de microscopie à contraste de phase. Un anneau de phase d'objectif spécifique de longueur d'ondes qui est opaque uniquement à des longueurs d'ondes spécifiques peut être utilisé conjointement avec un appareil de microscopie à contraste de phase. Des longueurs d'ondes atténuées peuvent être régulées de façon que l'opacité soit fournie sélectivement uniquement par rapport aux longueurs d'ondes qui sont en dehors de la plage désirée pour que des signaux de fluorescence soient surveillés. L'éclairage à l'intérieur de la plage opaque de longueurs d'ondes pour l'anneau de phase d'objectif peut être sélectionné pour des applications de microscopie à contraste de phase. Ainsi, un anneau de phase d'objectif efficace pour une microscopie à contraste de phase peut ne pas interférer avec une utilisation normale du microscope pour d'autres applications, de type microscopie par fluorescence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)