WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2004061505) SYSTEMES ET PROCEDES D'INSPECTION D'UNE INTERFACE OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/061505    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/041251
Date de publication : 22.07.2004 Date de dépôt international : 24.12.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.07.2004    
CIB :
G02B 6/38 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US)
Inventeurs : KIANI, Sepehr; (US).
GESSEL, David, J.; (US).
WILSON, Andrew; (US)
Mandataire : HWANG, David, H.; Teradyne, Inc., 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US)
Données relatives à la priorité :
10/329,881 26.12.2002 US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR INSPECTING AN OPTICAL INTERFACE
(FR) SYSTEMES ET PROCEDES D'INSPECTION D'UNE INTERFACE OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A system enables inspection of an optical connector. The system includes a positioning subassembly, an electronic sensor (e.g., a scanner, a camera, etc.), and a controller coupled to the positioning subassembly and the electronic sensor. The controller is configured to position the electronic sensor over the optical connector, activate the electronic sensor to obtain a set of electronic signals which defines a set of current images of the optical connector, and electronically generate a result based on the set of electronic signals. The result indicates an attribute of the optical connector. Accordingly, the system is capable of inspecting the optical connector in a repeatable and non-subjective manner.
(FR)L'invention concerne un système qui permet d'inspecter un connecteur optique. Ce système comprend un sous-ensemble de positionnement, un détecteur électronique (par exemple un scanner, une caméra etc.), et un contrôleur relié au sous-ensemble de positionnement et au détecteur électronique. Ce contrôleur est configuré de manière à positionner le détecteur électronique sur le connecteur optique, à activer le détecteur électronique afin d'obtenir un ensemble de signaux électroniques qui définit un ensemble d'images courantes du connecteur optique, et à générer électroniquement un résultat en fonction de l'ensemble de signaux électroniques. Le résultat indique un attribut du connecteur optique. Par conséquent, ce système est capable d'inspecter le connecteur optique de manière répétée et non subjective.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)