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1. (WO2004061459) CIRCUIT ET PROCEDE PERMETTANT DE TESTER DES CIRCUITS DE TRANSMISSION DE DONNEES A GRANDE VITESSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/061459    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/038648
Date de publication : 22.07.2004 Date de dépôt international : 05.12.2003
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/317 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01)
Déposants : LOGICVISION (CANADA), INC. [US/CA]; 1565 Carling Avenue, Suite 508, Ottawa, Ontario K1Z 8R1 (US) (Tous Sauf US).
SUNTER, Stephen, K. [CA/CA]; (CA) (US Seulement).
ROY, Aubin, P. J. [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : SUNTER, Stephen, K.; (CA).
ROY, Aubin, P. J.; (CA)
Mandataire : PROULX, Eugene, E.; LogicVision (Canada), Inc., 1525 Carling Avenue, Suite 404, Ottawa, Ontario K1Z 8R9 (CA)
Données relatives à la priorité :
60/433,989 18.12.2002 US
Titre (EN) CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING HIGH SPEED DATA CIRCUITS
(FR) CIRCUIT ET PROCEDE PERMETTANT DE TESTER DES CIRCUITS DE TRANSMISSION DE DONNEES A GRANDE VITESSE
Abrégé : front page image
(EN)A circuit and method are described in which a DC voltage or current is connected to a high frequency, AC-coupled signal path between a transmitter and a receiver, and the bit error rate of the data transmission is tested while applying an altered bias voltage to the received signal. The bias voltage can be connected via a resistor, inductor or transistors. The transmitted signal is attenuated resistively, and a load capacitance is applied whose value causes digital transition times to exceed one unit interval. An intended application is testing of an integrated circuit, serializer/deserializer (serdes) operating above 1 GHz.
(FR)L'invention concerne un circuit et un procédé permettant de coupler une tension ou un courant continu à une voie de transmission de signaux couplée en courant alternatif, à haute fréquence, entre un émetteur et un récepteur, et de tester le taux d'erreur sur les bits de la transmission de données tout en appliquant une tension de dérivation altérée au signal reçu. La tension de polarisation peut être couplée par l'intermédiaire d'une résistance, d'une bobine d'inductance ou de transistors. Le procédé de l'invention consiste à atténuer résistivement le signal transmis et à appliquer une capacité de charge dont la valeur permet de faire dépasser d'un intervalle élémentaire les temps de transition numérique. Ce circuit et ce procédé peuvent être utilisés pour tester un circuit intégré, convertisseur parallèle-série/série-parallèle fonctionnant au-delà de 1 GHz.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)