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1. (WO2004059243) ETAGE DE BALAYAGE RAPIDE POUR MICROSCOPE-SONDE A BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/059243    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/040026
Date de publication : 15.07.2004 Date de dépôt international : 16.12.2003
CIB :
G01Q 10/04 (2010.01), G01Q 10/06 (2010.01)
Déposants : MOLECULAR IMAGING CORPORATION [US/US]; 4666 South Ash Avenue, Tempe, AZ 85282 (US).
ARIZONA BOARD OF REGENTS [US/US]; Arizona State University, P.O. Box 9209, Tempe, AZ 85287-9209 (US)
Inventeurs : LINDSAY, Stuart, M.; (US).
JING, Tianwei; (US)
Mandataire : HAGAN, Timothy, W.; Dinsmore & Shohl LLP, One Dayton Centre-Suite 500, One South Main Street, Dayton, OH 45402-2023 (US)
Données relatives à la priorité :
60/435,518 20.12.2002 US
10/725,769 02.12.2003 US
Titre (EN) FAST SCANNING STAGE FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE
(FR) ETAGE DE BALAYAGE RAPIDE POUR MICROSCOPE-SONDE A BALAYAGE
Abrégé : front page image
(EN)A fast translation stage for a scanning probe microscope is provided. The stage includes at least one axis of translation driven at the natural resonant frequency of the translation stage such that distortion associated with rapid changes in scan direction is avoided. In one embodiment, the stage includes a sample plate or support that is driven, preferably by one or more piezoelectric actuator elements, so that the plate translates along the fast scan frequency at its resonant frequency.
(FR)L'invention concerne un étage de translation rapide pour microscope-sonde à balayage. Cet étage comprend au moins un axe de translation entraîné à la fréquence de résonance naturelle de l'étage de translation, de telle manière qu'est évitée une distorsion liée aux changements rapides de la direction du balayage. Dans un mode de réalisation, l'étage comprend un support ou une plaque d'échantillonnage qui est entraîné, de préférence, par au moins un élément d'actionnement piézo-électrique, afin que la plaque effectue une translation le long de la fréquence de balayage rapide à sa fréquence de résonance.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)