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1. (WO2004058113) SYSTEMES ET PROCEDES DE CHIRURGIE ABLATIVE BASES SUR UN MODELE PARAMETRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/058113    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/040302
Date de publication : 15.07.2004 Date de dépôt international : 16.12.2003
CIB :
A61F 9/01 (2006.01)
Déposants : THE OHIO STATE UNIVERSITY [US/US]; 1960 Kenny Road, Columbus, OH 43201-1063 (US) (Tous Sauf US).
ROBERTS, Cynthia [US/US]; (US) (US Seulement).
MAHMOUD, Ashraf [US/US]; (US) (US Seulement).
HERDERICK, Edward, E. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ROBERTS, Cynthia; (US).
MAHMOUD, Ashraf; (US).
HERDERICK, Edward, E.; (US)
Mandataire : JIVIDEN, William, A.; Dinsmore & Shohl, LLP, One South Main Street, Suite 500, One Dayton Centre, Dayton, OH 45402-2023 (US)
Données relatives à la priorité :
60/433,739 16.12.2002 US
Titre (EN) PARAMETRIC MODEL BASED ABLATIVE SURGICAL SYSTEMS AND METHODS
(FR) SYSTEMES ET PROCEDES DE CHIRURGIE ABLATIVE BASES SUR UN MODELE PARAMETRIQUE
Abrégé : front page image
(EN)Example systems and methods for performing individually customized corneal ablative surgery is presented. The example systems and methods rely on a parametric model that correlates corneal measurements with predicted post-operative results and algorithm updates that facilitate achieving desired post-operative results.
(FR)L'invention a trait à des systèmes et à des procédés exemplaires permettant de réaliser des opérations d'ablation cornéenne personnalisées. Lesdits systèmes et procédés exemplaires reposent sur un modèle paramétrique qui établit une corrélation entre des mesures cornéennes, des résultats post-chirurgicaux prédits et des algorithmes mis à jour, ce qui permet d'atteindre les résultats post-chirurgicaux désirés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)