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1. (WO2004057350) INSTRUMENT D'EXAMEN DE MODELE DE CIRCUIT ET PROCEDE D'EXAMEN DE MODELE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/057350    N° de la demande internationale :    PCT/JP2003/015289
Date de publication : 08.07.2004 Date de dépôt international : 28.11.2003
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : OHT INC. [JP/JP]; 1118-1, Aza Nishichujo, Kannabe-cho, Fukayasu-gun, Hiroshima 720-2103 (JP) (Tous Sauf US).
YAMAOKA, Shuji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HAMORI, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
ISHIOKA, Shogo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YAMAOKA, Shuji; (JP).
HAMORI, Hiroshi; (JP).
ISHIOKA, Shogo; (JP)
Données relatives à la priorité :
2002-382814 30.11.2002 JP
Titre (EN) CIRCUIT PATTERN INSPECTION INSTRUMENT AND PATTERN INSPECTING METHOD
(FR) INSTRUMENT D'EXAMEN DE MODELE DE CIRCUIT ET PROCEDE D'EXAMEN DE MODELE
(JA) 回路パターン検査装置及びパターン検査方法
Abrégé : front page image
(EN)A circuit inspection instrument for detecting a defect of a circuit board reliably and readily. The circuit inspection instrument is used for inspecting the conductive pattern on a circuit board (10). The conductive pattern is composed of two comb-shaped conductive patterns at least the end portions of each of which are arranged like parallel columns and the root portions of each of which are interconnected. An AC inspection signal is supplied to one (15a) of the comb-shaped conducive patterns, and the other (15b) is grounded. The column-arranged conductive portions are interdigitated. The circuit inspection instrument is characterized in that it comprises two sensing means (20, 30) having sensing electrodes for sensing signals from the comb-shaped conductive patterns (15a, 15b) and a scalar robot (80) for moving the sensing means (20, 30) to cause them to traverse the column-arranged patterns while positioning the sensing means (20, 30) so that the sensing means (20, 30) are capacitively coupled to the column-arranged conductive patterns, and in that the column-arranged pattern portions are inspected on the basis of the sensing levels of the sensing means (20, 30).
(FR)L'invention concerne un instrument d'examen de circuit permettant de détecter un défaut dans une carte de circuit de manière fiable et rapide. L'instrument d'examen de circuit sert à examiner le modèle conducteur sur une carte de circuit (10). Le modèle conducteur est constitué de deux modèles conducteurs en peigne dont au moins les parties d'extrémité sont disposées comme des colonnes parallèles et dont les parties de racine sont interconnectées. Un signal d'examen CA est acheminé vers un (15a) des modèles conducteurs en peigne, et l'autre (15b) est mis à la terre. Les parties conductrices disposées en colonne sont interdigitées. L'instrument d'examen de circuit est caractérisé en ce qu'il comprend deux moyens de détection (20, 30) ayant des électrodes de détection permettant de détecter des signaux provenant des modèles conducteurs en peigne (15a, 15b) et un robot scalaire (80) permettant de déplacer les moyens de détection (20, 30) afin de leur faire traverser les modèles disposés en colonnes tout en positionnant les moyens de détection (20, 30) de manière qu'ils soient couplés capacitivement aux modèles conducteurs disposés en colonnes et en ce que les parties des modèles disposés en colonnes sont soumises à examen après les niveaux de détection des moyens de détection (20, 30)
(JA)not available
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)