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1. (WO2004055475) PROCEDE POUR MESURER UN CONTOUR D'UNE PIECE PAR BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/055475    N° de la demande internationale :    PCT/EP2003/014252
Date de publication : 01.07.2004 Date de dépôt international : 15.12.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    08.07.2004    
CIB :
G01B 11/00 (2006.01)
Déposants : WERTH MESSTECHNIK GMBH [DE/DE]; Siemensstrasse 19, 35394 Giessen (DE) (Tous Sauf US).
CHRISTOPH, Ralf [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
MÜLLER, Klaus [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
RAUH, Wolfgang [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : CHRISTOPH, Ralf; (DE).
MÜLLER, Klaus; (DE).
RAUH, Wolfgang; (DE)
Mandataire : STOFFREGEN, Hans-Herbert; Friedrich-Ebert-Anlage 11b, 63450 Hanau (DE)
Données relatives à la priorité :
102 58 685.3 13.12.2002 DE
103 15 990.8 07.04.2003 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUM SCANNENDEN MESSEN EINER KONTUR EINES WERKSTÜCKS
(EN) METHOD FOR MEASURING A CONTOUR OF A WORKPIECE BY SCANNING
(FR) PROCEDE POUR MESURER UN CONTOUR D'UNE PIECE PAR BALAYAGE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum scannenden Messen einer Kontur (202) eines Werkstücks (200), unter Verwendung eines ersten und eines zweiten Sensors. Um mit hoher Präzision und Geschwindigkeit die Kontur des Werkstücks insbesondere auch im Flankenbereich messen zu können, wird vorgeschlagen, dass die Kontur des Werkstücks in einer Ebene (x, y) mit Hilfe von den zumindest zwei Sensoren erfasst wird und dass gewonnene Informationen mindestens eines Sensors zur Beeinflussung mindestens eines anderen Sensors in seinen Aktionen benutzt werden. Insbesondere ist vorgesehen, einen mechanischen oder opto-taktilen Taster anhand von konturdaten zu verfahren, die durch Bildverarbeitung in mehreren Fenstern (206) ermittelt wurden. Mit einem Lasersensor kann die Werkstückkontur zusätzlich in einer zur x-y-Ebene senkrechten Richtung gemessen werden.
(EN)The invention relates to a method for measuring a contour (202) of a workpiece (200) by scanning, using a first and a second sensor. According to the invention, the contour of the workpiece may be measured with high precision and rapidly, especially in the edge region thereof, whereby the contour of the workpiece in a plane (x, y) is recorded by means of the at least two sensors and the information obtained from at least one sensor is used to influence the actions of at least one other sensor. In particular, a mechanical or opto-tactile scanner is operated by means of contour data, obtained by image processing in several windows (206). The contour of the workpiece may also be measured in a direction perpendicular to the x, y plane by means of a laser sensor.
(FR)L'invention concerne un procédé pour mesurer un contour d'une pièce par balayage au moyen d'un premier et d'un deuxième capteur. L'objectif de l'invention est de permettre de mesurer le contour de la pièce, en particulier dans la zone de bordure de cette dernière, avec une précision et une vitesse élevées. A cet effet, le contour de la pièce est détecté au moyen des deux capteurs, et les informations obtenues d'au moins un capteur sont utilisées pour influer sur les actions d'au moins un autre capteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)