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Paramétrages

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1. WO2004031695 - SYSTEME DE MESURE ET PROCEDE POUR CONTROLER SON FONCTIONNEMENT

Numéro de publication WO/2004/031695
Date de publication 15.04.2004
N° de la demande internationale PCT/EP2003/009796
Date du dépôt international 04.09.2003
CIB
G01D 5/36 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
5Moyens mécaniques pour le transfert de la grandeur de sortie d'un organe sensible; Moyens pour convertir la grandeur de sortie d'un organe sensible en une autre variable, lorsque la forme ou la nature de l'organe sensible n'imposent pas un moyen de conversion déterminé; Transducteurs non spécialement adaptés à une variable particulière
26utilisant des moyens optiques, c. à d. utilisant de la lumière infrarouge, visible ou ultraviolette
32avec atténuation ou obturation complète ou partielle des rayons lumineux
34les rayons lumineux étant détectés par des cellules photo-électriques
36formant la lumière en impulsions
G01D 18/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
18Test ou étalonnage des appareils ou des dispositions prévus dans les groupes G01D1/-G01D15/129
CPC
G01D 18/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
18Testing or calibrating of apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
G01D 3/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
3Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
08with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown
G01D 5/24461
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
5Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
12using electric or magnetic means
244influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
24457Failure detection
24461by redundancy or plausibility
G01D 5/36
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
5Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
26characterised by optical transfer means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
32with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
34the beams of light being detected by photocells
36Forming the light into pulses
Déposants
  • DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • HOFBAUER, Hermann [DE]/[DE] (UsOnly)
  • STRASSER, Erich [DE]/[DE] (UsOnly)
Inventeurs
  • HOFBAUER, Hermann
  • STRASSER, Erich
Données relatives à la priorité
102 44 583.425.09.2002DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) MESSSYSTEM UND VERFAHREN ZU DESSEN FUNKTIONSÜBERPRÜFUNG
(EN) MEASURING SYSTEM AND METHOD FOR THE FUNCTIONAL MONITORING THEREOF
(FR) SYSTEME DE MESURE ET PROCEDE POUR CONTROLER SON FONCTIONNEMENT
Abrégé
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Messsystem, welches aus einem Messgerät (1), einem weiteren Gerät (2) und einem Datenübertragungsmittel (3) zum Übertragen von Datenbits zwischen dem Messgerät (1) und dem weiteren Gerät (2), besteht. Das Messgerät (1) weist dabei eine Signalüberwachungsschaltung (1.6) und ein Schaltelement (1.9, 1.10) auf. Das Schaltelement (1.9, 1.10) steht in elektrischem Kontakt zu einer Testpotenzialquelle (1.11), wobei in einem Schaltelementzustand die Testpotenzialquelle (1.11) in Kontakt mit der Signalüberwachungsschaltung (1.6) ist. Die Signalüberwachungsschaltung (1.6) ist darüber hinaus mit dem Datenübertragungsmittel (3) in Kontakt. Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren bei dem in einem Prüfbetrieb durch Aufschalten eines Testpotenzials eine Funktionsüberprüfung des Messsystems vorgenommen wird.
(EN)
The invention relates to a measuring system comprising a measuring device (1), another device (2) and a means for transmitting data (3) enabling bits of data to be transmitted between the measuring device (1) and the other device (2). The measuring device (1) also comprises a signal monitoring circuit (1.6) and a switch element (1.9, 1.10). The switch element (1.9, 1.10) is electrically contacted to a test potential source (1.11). The test potential source (1,11) is in contact with the signal monitoring circuit (1.6) according to a switch element state. The signal monitoring circuit (1.6) is also in contact with the means for transmitting data (3). The invention also relates to a method enabling functional monitoring of said measuring system in a monitoring mode wherein the test potential is applied.
(FR)
L'invention concerne un système de mesure composé d'un appareil de mesure (1), d'un autre appareil (2) et d'un dispositif de transmission de données (3) pour transmettre des bits de données entre l'appareil de mesure (1) et l'autre appareil (2), l'appareil de mesure (1) comportant un circuit de contrôle de signal (1.6) et un circuit logique (1.9, 1.10). Ce circuit logique (1.9, 1.10) est en contact électrique avec une source de potentiel test (1.11), laquelle est en contact avec le circuit de contrôle de signal (1.6), lorsque le circuit logique (1.9, 1.10) est dans un état déterminé, et, en outre, avec le dispositif de transmission de données (3). La présente invention porte également sur un procédé consistant à mettre en ligne un potentiel test pour contrôler le fonctionnement du système de mesure lors d'un fonctionnement de contrôle.
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