Traitement en cours

Veuillez attendre...

PATENTSCOPE sera indisponible durant quelques heures pour des raisons de maintenance le mardi 25.01.2022 à 12:00 PM CET
Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2004008196 - ANALYSEUR A POLARISATION

Numéro de publication WO/2004/008196
Date de publication 22.01.2004
N° de la demande internationale PCT/JP2003/008888
Date du dépôt international 14.07.2003
CIB
G02B 5/30 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
5Eléments optiques autres que les lentilles
30Eléments polarisants
G02B 27/28 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
28pour polariser
CPC
G02B 27/288
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
28for polarising
288Filters employing polarising elements, e.g. Lyot or Solc filters
G02B 5/3033
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
5Optical elements other than lenses
30Polarising elements
3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
3033in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
G02B 5/3041
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
5Optical elements other than lenses
30Polarising elements
3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
3033in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
3041comprising multiple thin layers, e.g. multilayer stacks
Déposants
  • AUTOCLONING TECHNOLOGY LTD. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • KAWAKAMI, Shojiro [JP]/[JP] (UsOnly)
  • SATO, Takashi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • KAWASHIMA, Takayuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • ISHIKAWA, Wataru [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • KAWAKAMI, Shojiro
  • SATO, Takashi
  • KAWASHIMA, Takayuki
  • ISHIKAWA, Wataru
Données relatives à la priorité
2002-23721213.07.2002JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) POLARIZATION ANALYZER
(FR) ANALYSEUR A POLARISATION
(JA) 偏光解析装置
Abrégé
(EN) A thin polarizer array and a wavelength plate array that are composed of micro regions having different optical axis directions and wavelength characteristics and have a high extinction ratio and a low insertion loss, and a polarization analyzer using them are disclosed. An array of micro periodic grooves are formed on a substrate, with the directions changed from one region to another. An alternating multilayer film formed by alternating a layer of high refractive index material such as Si or Ta2O5 and a layer of low refractive index material such as SiO2 is formed by bias sputtering. By selecting a condition that each layer maintains its periodic projecting/recessed shape, an array of photonic crystal polarizer is formed. By mounting this array of photonic crystal polarizer in a photodetector array, a polarization analyzer that is small, has no movable part, is composed of a small number of components, and enables high-precision measurement is constituted.
(FR) La présente invention concerne, d'une part une matrice fine de polariseurs et une matrice plate de longueurs d'ondes qui se composent de micro-régions présentant des orientations d'axe optique ainsi que des caractéristiques de longueurs d'ondes différentes et dotées d'un rapport d'extinction élevé et d'une perte à l'insertion faible, et d'autre part un analyseur à polarisation les utilisant. Une matrice de rainures micro-périodiques est réalisée sur un substrat, les orientations changeant d'une région à l'autre. Un film multicouche à alternance obtenu par pulvérisation polarisée en faisant alterner une couche de matériau à indice de réfraction élevé tel que Si ou Ta2O5 avec une couche de matériau à faible indice de réfraction tel que SiO2. Le choix d'un état tel que chaque couche conserve sa forme à creux et reliefs périodiques permet de réaliser un polariseur photonique à cristaux. Le montage de cette matrice de polariseurs photoniques à cristaux dans une matrice de photodétecteurs permet de réaliser un analyseur de petites dimensions, sans pièce mobile, constitué d'un petit nombre de composants et permettant des mesures de haute précision.
(JA) 光軸方向あるいは波長特性の異なる微小領域からなる薄型の偏光子アレイおよび波長板アレイを高消光比かつ挿入損失で実現し、それを用いた偏光解析装置を提供する。基板上に微細な周期的溝列を、領域毎に方向を変えて形成する。次にSiあるいはTa25などの高屈折率材とSiO2のような低屈折率材の交互多層膜をバイアススパッタ法で積層する。各層が周期的な凹凸形状を保存するように条件を選ぶことで、アレイ状のフォトニック結晶偏光子を形成する。これを光受光素子アレイに搭載することにより、小型で可動部分のない、部品点数の少ない高精度測定が可能な偏光解析装置が構成できる。
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international