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1. (WO2003089949) DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE A SYSTEME OPTIQUE A COURTE DISTANCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/089949    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/011742
Date de publication : 30.10.2003 Date de dépôt international : 15.04.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    14.11.2003    
CIB :
G01S 7/481 (2006.01), G01S 7/487 (2006.01), G01S 7/497 (2006.01), G01S 17/10 (2006.01)
Déposants : TOOLZ, LTD. [CN/US]; Unit 6-10, 28/F, Modern Warehouse, 6 Shing Yip Street, Kwun Tong, Kowloon, Hong Kong (CN)
Inventeurs : LEWIS, Robert; (US).
THOMPSON, Chad; (US).
VARIAN, George, R.; (US)
Mandataire : HARMON, William, J., III; Vierra Magen Marcus Harmon & DeNiro, LLP, Suite 540, 685 Market Street, San Francisco, CA 94105 (US)
Données relatives à la priorité :
60/372,992 15.04.2002 US
Titre (EN) DISTANCE MEASUREMENT DEVICE WITH SHORT DISTANCE OPTICS
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE A SYSTEME OPTIQUE A COURTE DISTANCE
Abrégé : front page image
(EN)Technology is disclosed for measuring distances. A measurement device emits a beam (16) that reflects on the surface of an object (12). The measurement device determines the distance to the object, based on the time of flight of the beam from transmission to capture by the measurement device. The measurement device derives feedback reference pulses (40) from pulses in the emitted beam (46) and injects (34) them into the device's receive path - creating a receive waveform that includes one or more feedback reference pulses and corresponding pulses in the return beam. The device uses the pulses in the waveform to measure time of flight. The measurement device can attenuate (32) the feedback reference pulses to intensities similar or equal to the intensities of the return pulses. The measurement device can include a histogram processor (Fig. 7) that collects waveform samples at varying comparison thresholds. The device employs the most accurate information at each threshold to create a digitized composite waveform that corresponds to the analog waveform received by the measurement device. In some instances the measurement device can process the digitized waveform - removing noise, scaling reference pulses, and removing distortions cased by pulse trailing edges running into subsequent pulses.
(FR)La présente invention a trait à la technologie de mesure de distances. Elle concerne un dispositif de mesure qui émet un faisceau se réfléchissant à la surface d'un objet. Ce dispositif de mesure détermine la distance jusqu'à l'objet, sur la base du temps de trajet du faisceau de l'émission à la capture par le dispositif de mesure. Le dispositif de mesure dérive des impulsions de référence de réaction à partir d'impulsions dans le faisceau émis et les injecte dans la voie de réception du dispositif, créant alors une forme d'onde de réception qui comprend une ou plusieurs impulsions de référence de réaction et des impulsions correspondantes dans le faisceau de retour. Le dispositif utilise les impulsions dans la forme d'onde afin de mesurer le temps de trajet. Le dispositif de mesure peut atténuer les impulsions de référence de réaction à des intensités similaires ou égales aux intensités des impulsions de retour. Ledit dispositif de mesure peut comprendre un processeur d'histogrammes qui collecte des échantillons de forme d'onde à des seuils de comparaison variables. Le dispositif utilise les informations les plus précises à chaque seuil, afin de créer une forme d'onde composée numérisée qui correspond à la forme d'onde analogique reçue par le dispositif de mesure. Dans certains exemples, le dispositif de mesure peut traiter la forme d'onde numérisée, supprimer le bruit, mettre les impulsions de référence à l'échelle et éliminer les distorsions induites par des flancs arrières d'impulsion passant dans des impulsions suivantes.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)