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1. (WO2003089941) SYSTEME DE TEST DE SEMI-CONDUCTEURS A UNITE D'INTERFACE FACILEMENT REMPLAÇABLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/089941    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/011470
Date de publication : 30.10.2003 Date de dépôt international : 14.04.2003
CIB :
G01R 31/01 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US)
Inventeurs : BENTLEY, Neil, R.; (US).
CHIU, Michael, A.; (US).
PETITTO, Wayne; (US)
Mandataire : WALSH, Edmund, J.; Teradyne, Inc., 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US)
Données relatives à la priorité :
60/372,997 16.04.2002 US
10/173,357 17.06.2002 US
Titre (EN) SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH EASILY CHANGED INTERFACE UNIT
(FR) SYSTEME DE TEST DE SEMI-CONDUCTEURS A UNITE D'INTERFACE FACILEMENT REMPLAÇABLE
Abrégé : front page image
(EN)A subassembly to aid in changing the interface unit (102) for an automatic test system. The disclosed embodiment shows an automatic test system with a handler (100) and a tester. The interface unit (102) is a device interface board (DIB). The subassembly (110) allows the DIB to be easily accessed, yet can be properly aligned to the test system. No special tools are required to change the DIB.
(FR)Sous-ensemble qui permet de faciliter le remplacement de l'unité d'interface pour un système automatique de test. Dans le mode de réalisation présenté, ledit système automatique de test comporte un automate programmable et un dispositif de test. L'unité d'interface est une carte d'interface de dispositif (DIB). Ledit sous-ensemble permet d'accéder facilement à la DIB, mais peut toutefois être aligné correctement avec le système de test. Aucun outil spécial n'est nécessaire pour remplacer la DIB.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)