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1. (WO2003088431) LASER A CAVITE VERTICALE ET A EMISSION PAR LA SURFACE (VCSEL) UTILISE EN TANT QUE REFERENCE D'INTERFEROMETRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/088431    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/010499
Date de publication : 23.10.2003 Date de dépôt international : 04.04.2003
CIB :
G01B 9/02 (2006.01), G01J 3/453 (2006.01)
Déposants : INLIGHT SOLUTIONS, INC. [US/US]; 800 Bradbury SE, Albuquerque, NM 87106 (US)
Inventeurs : MAYNARD, John, D.; (US).
RIDDER, Trent, D.; (US)
Données relatives à la priorité :
10/116,267 04.04.2002 US
Titre (EN) VERTICAL CAVITY SURFACE EMITTING LASER (VCSEL) AS AN INTERFEROMETER REFERENCE
(FR) LASER A CAVITE VERTICALE ET A EMISSION PAR LA SURFACE (VCSEL) UTILISE EN TANT QUE REFERENCE D'INTERFEROMETRE
Abrégé : front page image
(EN)A vertical cavity surface-emitting laser (VCSEL) package utilized as a laser reference (30) for use in interferometry (12). The primary disadvantage of VCSELs, in terms of interferometry, has been found to be the relatively poor wavenumber stability of the beam. The present invention is a method and apparatus that makes viable a VCSEL package suitable for use as a reference in interferometry. The VCSEL package incorporates current control, temperature control and an algorithm for correcting wavenumber drift. The algorithm is derived from spectroscopic analysis of a reference sample having a known spectrum and comparing the generated spectrum to the known spectrum.
(FR)La présente invention concerne un boîtier de laser à cavité verticale et à émission par la surface (VCSEL) utilisé en tant que référence de laser en interférométrie. L'inconvénient principal des laser VCSEL, en terme d'interférométrie, s'est avéré être la stabilité relativement faible du nombre d'ondes du faisceau. La présente invention se rapporte à un procédé et un appareil qui permettent d'envisager l'utilisation d'un boîtier VCSEL en tant que référence en interférométrie. Le boîtier VCSEL comprend un régulateur de courant, un régulateur de température et un algorithme de correction de la dérive du nombre d'ondes. L'algorithme est dérivé d'une analyse spectroscopique d'un échantillon de référence possédant un spectre connu et par comparaison du spectre généré avec le spectre connu.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)