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1. (WO2003088368) DETECTEURS AU GERMANIUM SENSIBLES A LA POSITION COMPORTANT UNE MICROSTRUCTURE SUR LES DEUX FACES DE CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/088368    N° de la demande internationale :    PCT/EP2003/003485
Date de publication : 23.10.2003 Date de dépôt international : 03.04.2003
CIB :
G01T 1/161 (2006.01), G01T 1/24 (2006.01), G01T 1/29 (2006.01), H01L 31/115 (2006.01), H01L 31/118 (2006.01)
Déposants : FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH [DE/DE]; 52425 Jülich (DE) (Tous Sauf US).
PROTIC, Davor [HR/DE]; (DE) (US Seulement).
KRINGS, Thomas [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : PROTIC, Davor; (DE).
KRINGS, Thomas; (DE)
Mandataire : GILLE HRABAL STRUCK NEIDLEIN PROP ROOS; Brucknerstr. 20, 40593 Düsseldorf (DE)
Données relatives à la priorité :
102 17 426.1 18.04.2002 DE
Titre (DE) ORTSEMPFINDLICHE GERMANIUMDETEKTOREN MIT MIKROSTRUKTUR AUF BEIDEN KONTAKTFLÄCHEN
(EN) POSITION-SENSITIVE GERMANIUM DETECTORS HAVING A MICROSTRUCTURE ON BOTH CONTACT SURFACES
(FR) DETECTEURS AU GERMANIUM SENSIBLES A LA POSITION COMPORTANT UNE MICROSTRUCTURE SUR LES DEUX FACES DE CONTACT
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft einen ortsauflösenden Detektor für die Messung von geladenen Teilchen mit einem Oberflächenbereich, der durch eine amorphe Schicht und eine darüber befindliche, strukturierte metallische Schicht gebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Struktur der metallischen Schicht in die amorphe Schicht hinein fortgesetzt ist.
(EN)The invention relates to a high-resolution detector used to measure charged particles in a surface area that is formed by an amorphous layer and a superimposed, structured metal layer, whereby the structure of the metal layer extends right into the amorphous layer.
(FR)L'invention concerne un détecteur sensible à la position, destiné à la mesure de particules chargées, comportant une zone de surface formée par une couche amorphe et par une couche métallique structurée, située au dessus de la couche amorphe. Le détecteur selon l'invention est caractérisé en ce que la structure de la couche métallique se prolonge dans la couche amorphe.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)