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1. (WO2003085638) RECONNAISSANCE DE FORMES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/085638    N° de la demande internationale :    PCT/IB2002/000948
Date de publication : 16.10.2003 Date de dépôt international : 27.03.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    29.09.2003    
CIB :
G06K 9/68 (2006.01), G10L 15/10 (2006.01)
Déposants : NOKIA CORPORATION [FI/FI]; Keilalahdentie 4, FIN-02150 Espoo (FI) (Tous Sauf US).
VASILACHE, Marcel [RO/FI]; (FI) (US Seulement)
Inventeurs : VASILACHE, Marcel; (FI)
Mandataire : AWAPATENT AB; Box 11394, S-404 28 Göteborg (SE)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) PATTERN RECOGNITION
(FR) RECONNAISSANCE DE FORMES
Abrégé : front page image
(EN)Method for determining a set of distortion measures in a pattern recognition process, where a sequence of feature vectors is formed from a digitized incoming signal to be recognized, said pattern recognition being based upon said set of distortion measures. The method comprises comparing (S10) a first feature vector in said sequence with a first number (M1) of templates from a set of templates representing candidate patterns, based on said comparison, selecting (S12) a second number (M2)of templates from said template set, the second number being smaller than the first number, and comparing (S14) a second feature vector only with said selected templates. The method can be implemented in a device for pattern recognition.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de déterminer un ensemble de mesures de distorsion dans un procédé de reconnaissance de formes, une séquence de vecteurs de caractéristiques étant formée à partir d'un signal entrant numérisé à reconnaître, ladite reconnaissance de formes étant fondée sur ledit ensemble de mesures de distorsion. Ce procédé consiste à comparer (S10) un premier vecteur de caractéristiques de ladite séquence avec un premier nombre (M1) de modèles à partir d'un ensemble de modèles représentant des formes candidates, en fonction de ladite comparaison, à sélectionner (S12) un second nombre (M2) de modèles à partir dudit ensemble de modèles, le second nombre étant inférieur au premier nombre, et à comparer (S14) un second vecteur de caractéristiques seulement avec lesdits modèles sélectionnés. Ce procédé peut être mis en oeuvre dans un dispositif de reconnaissance de formes.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)