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1. (WO2003085385) PROCEDE ET SPECTROMETRE DESTINES A LA MESURE SPECTROMETRIQUE DE L'EXTINCTION, DE LA TRANSMISSION, DE LA REMISSION OU DE LA REFLEXION D'ECHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/085385    N° de la demande internationale :    PCT/DE2003/001212
Date de publication : 16.10.2003 Date de dépôt international : 03.04.2003
CIB :
G01J 3/42 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/47 (2006.01), G01N 21/59 (2006.01)
Déposants : LLA INSTRUMENTS GMBH [DE/DE]; Schwarzschildstrasse 10, 12489 Berlin (DE) (Tous Sauf US).
LUCHT, Hartmut [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : LUCHT, Hartmut; (DE)
Données relatives à la priorité :
102 16 179.8 04.04.2002 DE
102 33 375.0 18.07.2002 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND SPEKTROMETER ZUR SPEKTROSKOPISCHEN MESSUNG DER EXTINKTION, DER TRANSMISSION, DER REMISSION ODER DER REFLEXION VON PROBEN
(EN) METHOD AND SPECTROMETER FOR SPECTROMETRICALLY MEASURING THE EXTINCTION, TRANSMISSION, DIFFUSE REFLECTION OR THE REFLECTION OF SAMPLES
(FR) PROCEDE ET SPECTROMETRE DESTINES A LA MESURE SPECTROMETRIQUE DE L'EXTINCTION, DE LA TRANSMISSION, DE LA REMISSION OU DE LA REFLEXION D'ECHANTILLONS
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung der Extinktion von Proben. Es werden ein Messverfahren und ein Spektrometer beschrieben, die dadurch gekennzeichnet sind,dass das Licht (2) von der Lichtquelle (1) mit großem Öffnungsverhältnis auf die Probe(6) fokussiert wird, dass das Licht (7) von der Probe in entgegengesetzter Richtung zur Einstrahlung mit wesentlich kleinerem Öffnungsverhältnis aufgenommen wird, dass das Licht (2) von der Lichtquelle (1) auf ein das Licht streuendes optisches Fenster (4) fokussiert wird, dass hinter diesem Fenster die Probe (6) angeordnet und durch das Fenster (4) bestrahlt und gemessen wird. Bei fehlender Probe (6) wird aus dem an dem Fenster (4) gestreuten Licht ein Referenzspektrum aufgezeichnet. Nach Aufzeichnung eines Spektrums einer Probe hinter demselben Fenster wird das Referenzspektrum zur Ermittlung der Extinktion, Transmission, Remission oder Reflexion dieser Probe benutzt.
(EN)The invention relates to a method and device for measuring the extinction of samples. A measuring method and a spectrometer are disclosed which are characterized in that: the light (2) from the light source (1) is focussed with a large aperture ratio onto the sample (6); the light (7) from the sample is received in direction opposite that of the irradiation with a significantly smaller aperture ratio; the light (2) from the light source (1) is focussed onto an optical window (4) that diffuses the light, and; the sample (6) is placed behind this window, is irradiated through the window (4) and is measured. When the sample (6) is absent, a reference spectrum is plotted from the light diffused on the window (4). After plotting a spectrum of a sample behind this window, the reference spectrum is used for determining the extinction, transmission, diffuse reflection or reflection of this sample.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure de l'extinction d'échantillons. L'invention concerne également un procédé de mesure et un spectromètre caractérisés en ce que la lumière (2) provenant de la source de lumière (1) est focalisée sur l'échantillon (6) avec un grand rapport d'ouverture, en ce que la lumière (7) provenant de l'échantillon est reçue avec un rapport d'ouverture nettement plus petit dans le sens opposé au sens d'irradiation, en ce que la lumière (2) provenant de la source de lumière (1) est focalisée sur une fenêtre optique (4) diffusant la lumière, et en ce que l'échantillon (6) est situé derrière cette fenêtre, irradié au travers de la fenêtre (4) et mesuré. En cas d'absence d'échantillon (6), un spectre de référence est enregistré à partir de la lumière diffusée sur la fenêtre. Après enregistrement d'un spectre d'un échantillon derrière cette même fenêtre, le spectre de référence est employé pour déterminer l'extinction, la transmission, la rémission ou la réflexion dudit échantillon.
États désignés : US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)