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1. (WO2003085354) SYSTÈME SANS CONTACT POUR MESURER LE CENTRAGE ET LE DIAMÈTRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/085354    N° de la demande internationale :    PCT/EP2003/002117
Date de publication : 16.10.2003 Date de dépôt international : 01.03.2003
CIB :
G01B 7/02 (2006.01), G01B 7/312 (2006.01), G01B 11/10 (2006.01)
Déposants : ZUMBACH ELECTRONIC AG [CH/CH]; Hauptstrasse 93 CH-2552 Orpund (CH) (Tous Sauf US).
STUDER, Urs, Peter [CH/CH]; (CH) (US Seulement)
Inventeurs : STUDER, Urs, Peter; (CH)
Mandataire : KÖSTER, Hajo; Propindus Jaeger und Köster Pippinplatz 4a 82131 Gauting b. München (DE)
Données relatives à la priorité :
102 15 432.5 08.04.2002 DE
102 19 848.9 03.05.2002 DE
Titre (DE) BERÜHRUNGSLOSES ZENTRIZITÄTS- UND DURCHMESSERMESSSYSTEM
(EN) CONTACTLESS SYSTEM FOR MEASURING CENTRICITY AND DIAMETER
(FR) SYSTÈME SANS CONTACT POUR MESURER LE CENTRAGE ET LE DIAMÈTRE
Abrégé : front page image
(DE)Bereitgestellt wird ein berührungsloses Zentrizitäts- und Durchmesser-Messsystem mit i) einer optischen Messvorrichtung (13, 13', 14, 14') zur Bestimmung des Aussendurchmessers und der Lage eines Stranges (3) in einer optischen, senkrecht und quer zur Mittelachse Z einer Messeinrichtung (2) angeordneten Messebene, wobei der Strang (3) einen Leiter (4) und eine diesen isolierende Umhüllung (5) aufweist und in Richtung der Mittelachse Z durch die Messeinrichtung (2) hindurchgezogen wird, ii) einer induktiven Messspulenvorrichtung (1) zur Bestimmung der Lage des Leiters (3) in einer induktiven Messebene, die ebenfalls senkrecht und quer zur Mittelachse Z der Messeinrichtung (2) angeordnet ist, und iii) Mitteln, welche die durch die optische Messvorrichtung (1) bestimmte Lage des Stranges (3) mit der durch die induktive Messspulenvorrichtung (1) ermittelten Lage des Leiters (4) in Beziehung setzen und daraus die Zentrizität des Leiters (4) in der Umhüllung (5) errechnen. Dieses Messsystem zeichnet sich dadurch aus, dass die Messspulen der Messspulenvorrichtung (1) paarweise oder hälftig bezüglich der optischen Messebene angeordnet sind und einerseits die Feldstärke vor der optischen Messebene angeordnet und es wird die feldstärke vor und nach der optischen Messebene ermittelt wobei und die Feldstärken derart in Beziehung gebracht werden, dass sich daraus die Feldstärke in einer aktiven induktiven Messebene ergibt.
(EN)The invention relates to a contactless system for measuring centricity and diameter, comprising i) an optical measuring device (13, 13', 14, 14') for determining the external diameter and the position of a cable (3) on an optical, perpendicular plane that runs transversally to the central axis Z of a measuring device (2), whereby said cable (3) has a conductor (4) and a jacket (5) that insulates said conductor and is pulled through the measuring device (2) along the central axis Z, ii) an inductive measuring coil device (1) for determining the position of the conductor (3) on an inductive measuring plane, which is likewise perpendicular and runs transversally to the central axis Z of the measuring device (2), and iii) means, which correlate the position of the cable (3), determined by the optical measuring device (1) with the position of the conductor (4), calculated by the inductive measuring coil device (1) and which calculate the centricity of the conductor (4) in the jacket (5) from said correlation. Said measuring system is characterised in that the measuring coils of the measuring device (1) are arranged in pairs or halves in relation to the optical measuring plane and that the field intensity is determined upstream and downstream of the measuring plane, whereby the field intensities are correlated in such a way that the field intensity on an active inductive measuring plane is obtained.
(FR)L'invention concerne un système sans contact pour mesurer le centrage et le diamètre, ce système comportant i) un appareil de mesure optique (13, 13', 14, 14') pour déterminer le diamètre extérieur et la position d'un câble (3) dans un plan de mesure optique vertical et perpendiculaire à l'axe médian Z d'un dispositif de mesure (2), le câble (3) comportant un conducteur (4) et une gaine isolante (5) et étant tiré à travers le dispositif de mesure (2) dans le sens de l'axe médian Z, ii) un dispositif de bobines détectrices (1) à induction pour déterminer la position du conducteur (3) dans un plan de mesure inductif, lequel est également disposé verticalement et perpendiculairement à l'axe médian Z du dispositif de mesure (2), iii) des moyens qui mettent en rapport la position du câble (3) déterminée par l'appareil de mesure optique (1) et la position du conducteur (4) déterminée par le dispositif de bobines détectrices (1) à induction, ces moyens calculant alors le centrage du conducteur (4) dans la gaine (5). Dans ce système de mesure, les bobines détectrices du dispositif associé (1) sont disposées par paires ou par moitiés relativement au plan de mesure optique. Les intensités de champs sont déterminées en amont et en aval du plan de mesure optique, et elles sont mises en rapport de telle sorte que l'on obtient l'intensité de champ dans un plan de mesure inductif actif.
États désignés : AL, AT, AU, BG, BR, CA, CH, CN, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, HU, IL, IN, JP, LT, LU, LV, MK, PL, PT, RO, SE, SK, TR, US, ZA.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)