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1. (WO2003083904) TEST SERIEL INTEGRE DE TETE D'IMPRESSION A JET D'ENCRE A BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/083904    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/009151
Date de publication : 09.10.2003 Date de dépôt international : 24.03.2003
CIB :
B41J 2/05 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01)
Déposants : LEXMARK INTERNATIONAL, INC. [US/US]; 740 West New Circle Road, Lexington, KY 40550 (US)
Inventeurs : COOK, William, Paul; (US).
EDELEN, John, Glenn; (US).
PARISH, George, Keith; (US).
ROWE, Kristi, Maggard; (US).
ZEARFOSS, Susan, Marie; (US)
Mandataire : DASPIT, Jacqueline, M.; Lexmark International, Inc., International Property Law Department, 740 West New Circle Road, Lexington, KY 40550 (US)
Données relatives à la priorité :
10/106,746 26.03.2002 US
Titre (EN) SERIAL INTEGRATED SCAN-BASED TESTING OF INK JET PRINT HEAD
(FR) TEST SERIEL INTEGRE DE TETE D'IMPRESSION A JET D'ENCRE A BALAYAGE
Abrégé : front page image
(EN)An n-bit serial register (12) in an ink jet print head (10) operates in a print mode or a test mode. When the shift register (12) is operating in the print mode or a test mode. When the shift register is operating in the print mode, n bits of print data (PDATA) are serially scanned into n number of bit registers (12) and are then latched out to heater addressing logic circuitry (20), (22), (24), in the print head (10) to control a print operation. When the circuit is operating in the test mode, x bits of test point data from x number of test nodes (TP) in the print head (10) are loaded in parallel into x number of the n number of bit registers (12), and are then serially scanned out to a test data output (TDATA). In this manner, a single shift register (12) may be used to scan in print data (PDATA) and scan out test data (TDATA), thereby providing observability and controllability of the internal logic nodes of the print head (10) while minimizing logic size and the number of input/output connections on the print head.
(FR)Un registre sériel à n-bit placé dans une tête d'impression à jet d'encre fonctionne en mode impression ou en mode test. Lorsque le registre à décalage fonctionne en mode impression, n bits de données d'impression sont sériellement balayées dans un nombre n de registres binaires et sont ensuite émises vers un circuit logique d'adressage de puce de chauffage placé dans la tête d'impression afin de commander une opération d'impression. Lorsque le circuit fonctionne en mode test, x bits de données de points de test provenant d'un nombre x de noeuds de test de la tête d'impression sont chargés en parallèle dans un nombre x de nombres n de registres binaires et sont ensuite sériellement balayés afin d'émettre des données de test. De cette façon, on peut utiliser un registre à décalage unique pour balayer des données d'impression et émettre des données de test, ce qui permet d'observer et de commander les noeuds de logique interne de la tête d'impression tout en réduisant la taille de ladite logique et le nombre de connexions d'entrées/sorties sur la tête d'impression.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)