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1. (WO2003083508) SYSTEME PERFECTIONNE D'IMAGERIE EN ONDES MILLIMETRIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/083508    N° de la demande internationale :    PCT/GB2003/001349
Date de publication : 09.10.2003 Date de dépôt international : 20.03.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.10.2003    
CIB :
G01S 7/41 (2006.01), G01S 13/89 (2006.01), G01V 8/00 (2006.01)
Déposants : QINETIQ LIMITED [GB/GB]; Registered Office, 85 Buckingham Gate, London SW1E 6PD (GB) (Tous Sauf US).
SINCLAIR, Gordon, Neil [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
SALMON, Neil, Anthony [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : SINCLAIR, Gordon, Neil; (GB).
SALMON, Neil, Anthony; (GB)
Mandataire : DAVIES, P.; D/IP QinetiQ Formalities, Cody Technology Park, A4 Building, Room G016, Ively Road, Farnborough, Hampshire GU14 0LX (GB)
Données relatives à la priorité :
0207361.7 28.03.2002 GB
Titre (EN) IMPROVED MILLIMETRE WAVE IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTEME PERFECTIONNE D'IMAGERIE EN ONDES MILLIMETRIQUES
Abrégé : front page image
(EN)An improved millimetre wave imaging system includes means for detecting radiation from a scene at at least two differing illumination intensities, such that separate images may be produced at each illumination intensity. This allows, under some circumstances, objects to be discriminated from their background in one illumination regime where, in another illumination regime, they are indistinguishable. The system may be arranged to observe the scene in a plurality of frequency bands each having different illumination levels, or alternatively it may be arranged to observe at a single frequency band using a switched power illumination source. The invention may also be used to estimate the composition of materials within the scene. A method relating thereto is also disclosed.
(FR)La présente invention se rapporte à un système perfectionné d'imagerie en ondes millimétriques comportant un moyen de détection du rayonnement en provenance d'une scène à au moins deux intensités d'éclairage différentes, de sorte que des images séparées puissent être produites pour chaque intensité d'éclairage. Dans certaines circonstances, ceci permet de distinguer des objets de leur arrière-plan dans certaines conditions d'éclairage tandis que, dans d'autres conditions d'éclairage, ils ne peuvent être distingués. Le système peut être conçu pour permettre l'observation de la scène dans une pluralité de bandes de fréquence associées chacune à des niveaux d'éclairage différents, ou il peut également être conçu pour permettre l'observation dans une bande de fréquence unique au moyen d'une source d'éclairage à puissance commutée. Le système de l'invention peut également être utilisé pour évaluer la composition de matières présentes dans la scène. L'invention se rapporte en outre à un procédé associé audit système.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)