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1. (WO2003081420) TEST A FREQUENCE ALEATOIRE POUR LE CALCUL EN LIGNE DE LA MOYENNE DES INTERVALLES FONCTIONNELS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/081420    N° de la demande internationale :    PCT/IB2003/000797
Date de publication : 02.10.2003 Date de dépôt international : 26.02.2003
CIB :
G06F 7/58 (2006.01), G06F 17/18 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventeurs : HARS, Laszlo; (NL)
Mandataire : TURNER, Richard, C.; Philips Intellectual Property & Standards, Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
10/106,950 26.03.2002 US
Titre (EN) FUNCTIONAL GAP AVERAGE ON-LINE RANDOMNESS TEST
(FR) TEST A FREQUENCE ALEATOIRE POUR LE CALCUL EN LIGNE DE LA MOYENNE DES INTERVALLES FONCTIONNELS
Abrégé : front page image
(EN)The present invention is a method and apparatus for testing the random numbers generated by a random-number generator in real time. A stream of random bits is generated using a random-number generator, then the generated random bits undergo a functional-exponential-average gap length calculation in which distances between occurrences of a plurality of sub-sequences having identical bit patterns are identified and applied to functional weighting and exponential averaging to obtain an average gap length. The average gap length is compared to a predetermined acceptance range, such that if the average gap length repeatedly falls outside the predetermined acceptance range more than a predetermined number of times, it is determined that the generated random bits are insufficiently random.
(FR)La présente invention porte sur un procédé et sur un appareil de test des nombres aléatoires générés en temps réel par un générateur de nombres aléatoires. Un train de bits aléatoires est généré au moyen d'un générateur de nombres aléatoires et les bits aléatoires générés sont alors soumis à un calcul exponentiel de longueur d'intervalle moyen fonctionnel dans lequel on repère les distances entre les occurrences d'une pluralité de sous-séquences ayant des configurations binaires identiques, distances qu'on applique à une pondération fonctionnelle et à un calcul exponentiel de moyenne pour obtenir une longueur d'intervalle moyen. On compare la longueur d'intervalle moyen à une plage d'acceptation prédéterminée de sorte que, si la longueur d'intervalle moyen tombe de façon itérative hors de la plage d'acceptation prédéterminée plus d'un nombre de fois prédéterminé, on considère que les bits aléatoires générés ne sont pas assez aléatoires.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)