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1. (WO2003081280) PROCEDE DE PRODUCTION PERMETTANT DE FABRIQUER DES RESEAUX DE DETECTEURS DE RAYONNEMENTS SENSIBLES A LA POSITION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/081280    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/002793
Date de publication : 02.10.2003 Date de dépôt international : 31.01.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    28.08.2003    
CIB :
G01T 1/161 (2006.01), G01T 1/164 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01), G01T 1/202 (2006.01), G01T 1/29 (2006.01), H01L 27/14 (2006.01), H01L 31/09 (2006.01)
Déposants : BOARD OF REGENTS, THE UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM [US/US]; 201 West Seventh Street, Austin, TX 78701 (US) (Tous Sauf US).
WONG, Wai-Hoi [US/US]; (US) (US Seulement).
URIBE, Jorge [CO/US]; (US) (US Seulement).
BAGHAEI, Hossain [US/US]; (US) (US Seulement).
LI, Hongdi [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : WONG, Wai-Hoi; (US).
URIBE, Jorge; (US).
BAGHAEI, Hossain; (US).
LI, Hongdi; (US)
Mandataire : BARRETT, Michael, C.; Fulbright & Jaworski, L.L.P., Suite 2400, 600 Congress Avenue, Austin, TX 78701 (US)
Données relatives à la priorité :
60/353,136 01.02.2002 US
Titre (EN) A PRODUCTION METHOD FOR MAKING POSITION-SENSITIVE RADIATION DETECTOR ARRAYS
(FR) PROCEDE DE PRODUCTION PERMETTANT DE FABRIQUER DES RESEAUX DE DETECTEURS DE RAYONNEMENTS SENSIBLES A LA POSITION
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods are described for a production method for making position-sensitive radiation detector arrays. A method includes applying a plurality of masks (510) to a plurality of scintillation crystals slabs; coupling the plurality of scintillation crystal slabs to form a sandwich structure (501, 502, 503); cutting a plurality of slices (525) from the sandwich structure; and coupling at least two of the plurality of slices to form a detector array (540).
(FR)L'invention porte sur des systèmes et des procédés destinés à un procédé de production permettant de fabriquer des réseaux de détecteurs de rayonnements sensibles à la position. Le procédé consiste à appliquer une pluralité de masques sur une pluralité de plaques de cristal à scintillement ; à relier la pluralité de plaques de cristal à scintillement de manière à former une structure en sandwich ; à découper une pluralité de tranches dans la structure en sandwich ; et à relier au moins deux tranches afin de former un réseau de détecteurs.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)