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1. (WO2003081222) CRIBLAGE DE BANQUE COMBINATOIRE AU MOYEN D'ANALYSE PAR RAYONS X
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/081222    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/008434
Date de publication : 02.10.2003 Date de dépôt international : 19.03.2002
CIB :
G01N 23/207 (2006.01), G01N 23/223 (2006.01), G21K 1/06 (2006.01)
Déposants : X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC. [US/US]; 30 Corporate Circle Albany, NY 12203 (US) (Tous Sauf US).
NICOLICH, Jeffrey, P. [US/US]; (US) (US Seulement).
GIBSON, David, M. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : NICOLICH, Jeffrey, P.; (US).
GIBSON, David, M.; (US)
Mandataire : RADIGAN, Kevin, P.; Heslin Rothenberg Farley Mesiti P.C. 5 Columbia Circle Albany, NY 12203 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SCREENING OF COMBINATORIAL LIBRARY USING X-RAY ANALYSIS
(FR) CRIBLAGE DE BANQUE COMBINATOIRE AU MOYEN D'ANALYSE PAR RAYONS X
Abrégé : front page image
(EN)An x-ray apparatus and method are presented for controlling x-rays to analyze combinatorial libraries for the rapid screening of different materials and different conditions. The apparatus includes a laboratory x-ray source, one or more x-ray optics, a combinatorial library, and a detector such as an x-ray detector or an electron energy detector. The apparatus can be used to perform analytical measurements on individual members of the library, where the measurements may comprise x-ray fluorescence, x-ray diffraction, total reflection x-ray fluorescent spectrometry, and/or extended x-ray absorption fine structure.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé de radiographie permettant de commander des rayons X afin d'analyser des banques combinatoires pour un criblage rapide de matériaux et d'états différents. L'appareil de l'invention comprend une source de rayons X de laboratoire, une ou plusieurs optiques de rayons X, une banque combinatoire, et un détecteur de type système de détection par rayons X ou système de détection d'énergie d'électrons. Ledit appareil peut servir à réaliser des mesures analytiques sur des éléments individuels de la banque. A titre d'exemple de mesures, on peut citer: mesure de la fluorescence X, mesure de la diffraction des rayons X, mesure par spectrométrie de fluorescence X de réflexion totale, et/ou mesure d'une structure fine étendue d'absorption des rayons X.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)