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1. (WO2003081221) SYSTEME DE CRIBLAGE PAR DIFFRACTION DE RAYONS X EN MODE TRANSMISSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/081221    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/008542
Date de publication : 02.10.2003 Date de dépôt international : 20.03.2003
CIB :
G01N 23/20 (2006.01)
Déposants : BRUKER AXS, INC. [US/US]; 5465 East Cheryl Parkway, Madison, WI 53711-5373 (US)
Inventeurs : HE, Bob, Baoping; (US).
BOLLIG, Ryan, C.; (US).
BRÜGEMANN, Hans, Mathias, Lutz; (DE)
Mandataire : CONRAD, Philip, L.; Kudirka & Jobse, LLP, Suite 800, One State Street, Boston, MA 02109 (US)
Données relatives à la priorité :
60/366,417 21.03.2002 US
Titre (EN) TRANSMISSION MODE X-RAY DIFFRACTION SCREENING SYSTEM
(FR) SYSTEME DE CRIBLAGE PAR DIFFRACTION DE RAYONS X EN MODE TRANSMISSION
Abrégé : front page image
(EN)A transmission mode x-ray diffraction screening system has a sample support that holds a sample tray with multiple samples to be tested. The sample support is connected to a translation stage that is movable in three dimensions, and that it offset from the location of the sample support. An x-ray source is located to one side of the sample support, and a detector is located to the other side, thereby allowing the detection of x-rays that are diffracted by the sample in a transmission mode. A retractable beamstop may be located between the sample and the detector to block at least part of the non-diffracted x-rays from the source. A video camera may also be provided for imaging the sample location, which may be illuminated by a laser. The entire system may be automated such that each sample in the sample tray may be sequentially analyzed.
(FR)L'invention concerne un système de criblage par diffraction de rayons X en mode transmission qui présente un support d'échantillons comportant un porte-échantillon qui comprend plusieurs échantillons à tester. Ce support d'échantillons est relié à un étage de translation pouvant être déplacé dans trois dimensions, et qui est décalé par rapport à l'emplacement dudit support d'échantillons. Une source de rayons X est située sur un côté dudit support d'échantillons, et un détecteur est situé sur l'autre côté, ce qui permet de détecter des rayons X qui sont diffractés par l'échantillon dans un mode de transmission. Un capteur de faisceau rétractable peut être situé entre l'échantillon et ledit détecteur afin de capter au moins une partie des rayons X non diffractés à partir de la source. Une caméra vidéo peut également être utilisée pour imager l'emplacement de l'échantillon, qui peut être illuminé par un laser. Le système complet peut être automatisé de sorte que chaque échantillon puisse être analysé de manière séquentielle.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)