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1. (WO2003080177) ORGANE DE SURVEILLANCE DE COURANT POUR DISPOSITIF MEDICAL IMPLANTABLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/080177    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/007127
Date de publication : 02.10.2003 Date de dépôt international : 10.03.2003
CIB :
A61N 1/37 (2006.01), A61N 1/39 (2006.01)
Déposants : MEDTRONIC, INC. [US/US]; MS LC340 710 Medtronic Parkway NE Minneapolis, MN 55432 (US)
Inventeurs : BRUNWELL, Dennis; (US).
DROPPS, Frank; (US)
Mandataire : SOLDNER, Michael, C.; MS LC340 710 Medtronic Parkway NE Minneapolis, MN 55432 (US)
Données relatives à la priorité :
10/102,076 19.03.2002 US
Titre (EN) CURRENT MONITOR FOR AN IMPLANTABLE MEDICAL DEVICE
(FR) ORGANE DE SURVEILLANCE DE COURANT POUR DISPOSITIF MEDICAL IMPLANTABLE
Abrégé : front page image
(EN)A method and an apparatus for performing a device component failure analysis in an implantable medical device using current consumption data. A current consumption signal relating to current consumption in an implantable medical device is generated. The current consumption signal is then processed. A defect of a component in the implantable medical device is assessed in response to the processing of the current consumption signal and appropriate action is taken, such as selecting alternate therapies, generating an alert signal, and turning off circuits corresponding to the assessed defect.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil permettant d'analyser une panne de composant d'un dispositif médical implantable au moyen de données de consommation de courant. Un signal de consommation de courant relatif à la consommation de courant d'un dispositif médical implantable est produit, puis traité. Un défaut d'un composant du dispositif médical implantable est évalué par suite du traitement dudit signal; une mesure appropriée est alors prise, qui consiste, par exemple, à choisir des thérapies de rechange, à produire un signal d'alerte et à éteindre les circuits correspondant au défaut évalué.
États désignés : CA, JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)