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1. (WO2003068012) ECHANTILLON DE MESURE POUR COSTUME FAIT SUR COMMANDE ET SYSTEME DE FABRICATION D'UN COSTUME FAIT SUR COMMANDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/068012    N° de la demande internationale :    PCT/JP2003/001497
Date de publication : 21.08.2003 Date de dépôt international : 13.02.2003
CIB :
A41H 1/02 (2006.01), A41H 1/10 (2006.01)
Déposants : MARUKO CO., LTD. [JP/JP]; 5-20, Minamiyagicho 3-chome, Kashihara-shi, Nara 634-8505 (JP) (Tous Sauf US).
FUJIKUMA, Yoshie [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : FUJIKUMA, Yoshie; (JP)
Mandataire : TANI, Yoshikazu; 6-20, Akasaka 2-chome, Minato-ku, Tokyo 107-0052 (JP)
Données relatives à la priorité :
2002-34888 13.02.2002 JP
Titre (EN) MEASURING SAMPLE FOR SUIT MADE TO ORDER AND SYSTEM FOR MAKING SUIT TO ORDER
(FR) ECHANTILLON DE MESURE POUR COSTUME FAIT SUR COMMANDE ET SYSTEME DE FABRICATION D'UN COSTUME FAIT SUR COMMANDE
Abrégé : front page image
(EN)A measuring sample for a suit made to order, and a system for making a suit to order in which a suit having a custom size and giving a feeling of fitness can be provided. A bottom measuring sample is provided, at the waist part thereof, with a part capable of adjusting and measuring the waist size and, at the hip part thereof, with a part capable of adjusting and measuring the hip cup size. A plurality of bottom measuring samples are prepared while altering the hip size and one matching the hip size of a client is selected and tried on. It is adjusted to the waist size and hip cup size of the client using the waist measuring part and the hip cup measuring part thus bringing about such a state as a bottom measuring sample of custom size is tried on and the custom size is measured at the same time.
(FR)L'invention concerne un échantillon de mesure pour un costume fait sur commande et un système de fabrication d'un costume fait sur commande qui permettent d'obtenir un costume taillé sur mesure donnant une sensation de confort. Un échantillon de mesure de la partie inférieure comprend, au niveau de sa partie taille, une partie permettant de régler et de mesurer les dimensions de la taille et, au niveau de sa partie hanche, une partie permettant de régler et de mesurer les dimensions de la hanche. Une pluralité d'échantillons de mesure de la partie inférieure sont préparés pendant qu'on modifie les dimensions de la hanche. Un de ces échantillons, qui correspond aux dimensions de la hanche d'un client, est choisi et essayé, puis ajusté aux dimensions de taille et de hanche du client au moyen de la partie de mesure de la taille et de la partie de mesure de la hanche. De cette façon, un échantillon de mesure de la partie inférieure taillé sur mesure est essayé en même temps que la taille sur mesure est mesurée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)