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1. (WO2003067510) COMPENSATION DE PERFORMANCE D'UN LASER EN FONCTION DE LA TEMPERATURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/067510    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/001032
Date de publication : 14.08.2003 Date de dépôt international : 14.01.2003
CIB :
H01S 5/068 (2006.01)
Déposants : CEYX TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 437 J Street, Suite 311, San Diego, CA 92101 (US) (Tous Sauf US).
SANCHEZ OLEA, Jorge [US/US]; (US)
Inventeurs : SANCHEZ OLEA, Jorge; (US)
Mandataire : PARSONS, George, T.; 2736 Aegean Drive, San Diego, CA 92139-3211 (US)
Données relatives à la priorité :
60/348,967 14.01.2002 US
09/724,692 28.11.2000 US (Priority Withdrawn 09.04.2003)
Titre (EN) LASER TEMPERATURE PERFORMANCE COMPENSATION
(FR) COMPENSATION DE PERFORMANCE D'UN LASER EN FONCTION DE LA TEMPERATURE
Abrégé : front page image
(EN)The invention presents a method that calibrates the laser optical power (202) in a continuous manner without disrupting the flow of information in the optical communications link. The method utilizes knowledge of the measured value of the laser optical power (202) and makes necessary adjustments to optimize the values of the Extinction Ratio, Bit Error Rate and to compensate for aging. The method utilizes knowledge of the temperature from a sensor (114) and mathematical models, which contain parameters which are updated for a specific laser configuration.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage en continu de la puissance optique d'un laser (202) sans interruption du flux d'information de la liaison de communications optiques. Le procédé fait usage de la connaissance de la valeur mesurée de la puissance optique du laser (202) et réalise les ajustements nécessaires afin d'optimiser les valeurs de rapport d'extinction, de taux d'erreur binaire et de compenser le vieillissement. Le procédé utilise la mesure de température provenant d'un capteur (114) ainsi que des modèles mathématiques qui contiennent des paramètres mis à jour concernant une configuration spécifique du laser.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)