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1. (WO2003067274) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION DE DEFAUTS SUR DES CIRCUITS INTEGRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/067274    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/001709
Date de publication : 14.08.2003 Date de dépôt international : 21.01.2003
CIB :
G01R 31/3185 (2006.01)
Déposants : MEDTRONIC,INC. [US/US]; LC 340, 710 Medtronic Parkway, Minneapolis, MN 55432 (US)
Inventeurs : URBAN, David, J.; (US).
BEDAL, Glenn, E.; (US).
NGUYEN, John, Z.; (US).
HUELSKAMP, Paul, J.; (US)
Mandataire : SOLDNER, Michael, C.; 710 Medtronic Parkway NE, Minneapolis, MN 55432-5601 (US)
Données relatives à la priorité :
10/061,844 01.02.2002 US
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FAULTS ON INTEGRATED CIRCUITS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION DE DEFAUTS SUR DES CIRCUITS INTEGRES
Abrégé : front page image
(EN)A scan-cell for use in a scan device of the type which is utilized to test integrated circuits comprises a first multiplexer (78); a switching device (70), and a second multiplexer (126). The first multiplexer provides a data signal on the output thereof when a control signal is in a first state and provides a test signal at the output thereof when the control signal is in a second state. The switching device is coupled to the output of the first multiplexer and captures the output. The second multiplexer has an input coupled to the output of the switching device and transmits the output when the control signal is in the first state. The second multiplexer transmits an inverted form of the output when the control signal is in the second state.
(FR)L'invention concerne une cellule de balayage destinée à être utilisée dans un dispositif de balayage du type de ceux utilisés pour tester les circuits intégrés, et comprenant un premier multiplexeur, un dispositif de commutation et un second multiplexeur. Le premier multiplexeur génère un signal de données sur la sortie lorsqu'un signal de commande se trouve dans un premier état et génère un signal d'essai au niveau de la sortie lorsque le signal de commande se trouve dans un second état. Le dispositif de commutation est couplé à la sortie du premier multiplexeur et capture la sortie. Le second multiplexeur comprend une entrée couplée à la sortie du dispositif de commutation et transmet la sortie lorsque le signal de commande se trouve dans le premier état. Le second multiplexeur transmet une forme inversée de la sortie lorsque le signal de commande se trouve dans le second état.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)