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1. (WO2003067272) PROCEDE ET APPAREIL PERMETTANT DE DIFFUSER DES SEQUENCES DE BALAYAGE DANS UN CIRCUIT INTEGRE TESTE PAR BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/067272    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/000029
Date de publication : 14.08.2003 Date de dépôt international : 16.01.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.08.2003    
CIB :
G01R 31/3185 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01)
Déposants : SYNTEST TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 505 S. Pastoria Avenue, Suite 101, Sunnyvale, CA 94086 (US) (Tous Sauf US).
WANG, Laung-Terng (L.-T.) [US/US]; (US) (US Seulement).
WANG, Hsin-Po [--/--]; (TW) (US Seulement).
WEN, Xiaoqing [--/US]; (US) (US Seulement).
LIN, Meng-Chyi [--/--]; (TW) (US Seulement).
LIN, Shyh-Horng [--/--]; (TW) (US Seulement).
YEH, Da-Chia [--/--]; (TW) (US Seulement).
TSAI, Sen-Wei [--/--]; (TW) (US Seulement).
ABDEL-HAFEZ, Khader, S. [JO/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : WANG, Laung-Terng (L.-T.); (US).
WANG, Hsin-Po; (TW).
WEN, Xiaoqing; (US).
LIN, Meng-Chyi; (TW).
LIN, Shyh-Horng; (TW).
YEH, Da-Chia; (TW).
TSAI, Sen-Wei; (TW).
ABDEL-HAFEZ, Khader, S.; (US)
Mandataire : ZEGEER, Jim; 801 N. Pitt Street #108, Alexandria, VA 22314 (US)
Données relatives à la priorité :
60/348,383 16.01.2002 US
10/339,667 10.01.2003 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR BROADCASTING SCAN PATTERNS IN A SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUIT
(FR) PROCEDE ET APPAREIL PERMETTANT DE DIFFUSER DES SEQUENCES DE BALAYAGE DANS UN CIRCUIT INTEGRE TESTE PAR BALAYAGE
Abrégé : front page image
(EN)A broadcaster (208), system (201) and method for reducing test data volume and test application time in an ATE (automatic test equipment) (202) in a scan-based integrated circuit. The scan-based integrated circuit contains multiple scan chains, each scan chain comprising multiple scan cells coupled in series. The broadcaster (208) is a combinational logic network coupled to an optional virtual scan controller and an optional scan connector. The virtual scan controller controls the operation of the broadcaster (208). The system transmits virtual scan patterns stored in the ATE (202) and generates broadcast scan pattern (219) through the broadcaster for testing manufacturing faults in the scan-based integrated circuit. The number of scan chains that can be supported by the ATE (202) is significantly increased. Methods are further proposed to reorder scan cells in selected scan chains, to generate the broadcast scan patterns and virtual scan patterns, and synthesize the broadcaster and a compactor in the scan-based integrated circuit.
(FR)L'invention concerne un diffuseur (208), un système (201) et un procédé permettant de réduire le volume de données de test et la durée d'application d'un test dans un équipement automatique de test (ATE) dans un circuit intégré testé par balayage. Ledit circuit intégré testé par balayage contient plusieurs chaînes de balayage, chacune d'elles comprenant de multiples cellules de balayage montées en série. Le diffuseur (208) est un réseau logique combinatoire couplé à un contrôleur de balayage virtuel et à un connecteur de balayage facultatifs. Ledit contrôleur de balayage virtuel commande le fonctionnement du diffuseur (208). Le système transmet des séquences de balayage virtuel stockées dans l'équipement ATE (202) et génère une séquence de balayage (219) diffusée par l'intermédiaire du diffuseur afin de tester les défauts de fabrication dans le circuit intégré testé par balayage. Le nombre de chaînes de balayage pouvant être supportées par l'équipement ATE (202) est augmenté de manière significative. L'invention concerne également des procédés permettant de réordonner des cellules de balayage dans des chaînes de balayage sélectionnées, de générer des séquences de balayage diffusées et des séquences de balayage virtuel, et d'associer le diffuseur et un ordinateur dans le circuit intégré testé par balayage.
États désignés : AU, CA, CN, IN, JP, NZ, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)