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1. (WO2003067245) SYSTEME ET PROCEDE DE DETECTION DE DEFECTUOSITES DANS UN OBJET MANUFACTURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/067245    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/003621
Date de publication : 14.08.2003 Date de dépôt international : 06.02.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    05.09.2003    
CIB :
G01N 29/11 (2006.01), G01N 29/44 (2006.01), G01N 29/48 (2006.01), G01N 29/50 (2006.01)
Déposants : LOCKHEED MARTIN CORPORATION [US/US]; 6801 Rockledge Drive, Bethesda, MD 20817 (US) (Tous Sauf US).
LORRAINE, Peter, W. [CA/US]; (US) (US Seulement).
DUBOIS, Marc [CA/US]; (US) (US Seulement).
FILKINS, Robert, J. [US/US]; (US) (US Seulement).
VENCHIARUTTI, Barbara [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : LORRAINE, Peter, W.; (US).
DUBOIS, Marc; (US).
FILKINS, Robert, J.; (US).
VENCHIARUTTI, Barbara; (IT)
Mandataire : MCLAUCHLAN, Robert, A.; Hughes & Luce, LLP, 1717 Main Street, Suite 2800, Dallas, TX 75201 (US).
MCLAUCHLAN, Robert, A.; Koestner Bertani, LLP, P.O. Box 26780, Austin, TX 78755 (US)
Données relatives à la priorité :
10/068,255 06.02.2002 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS IN A MANUFACTURED OBJECT
(FR) SYSTEME ET PROCEDE DE DETECTION DE DEFECTUOSITES DANS UN OBJET MANUFACTURE
Abrégé : front page image
(EN)Ultrasonic testing techniques may involve the measurement of ultrasonic waves from the tested part. These waves may reflect from surfaces of various layers within the part. Further, these waves may reflect from faults, defects, voids, fractures, and others. As such, the measured ultrasonic wave is a complex mix of these reflections. One method for detecting flaws, defects, and others may be to express the signal in terms of a set of basis functions. These functions may be summed to produce the measured signal. Further, basis functions may be chosen such that a select set of the basis functions characterize the fault and/or defect. In one exemplary embodiment, the coefficients associated with the basis function may be non-zero when a defect is present. As such, a defect may be detected quickly and automatically.
(FR)Les techniques de contrôle aux ultrasons consistent notamment à mesurer les ondes ultrasoniques renvoyées par la pièce testée. Ces ondes peuvent être réfléchies par les surfaces de diverses couches à l'intérieur de la pièce, mais aussi par des imperfections, des défectuosités, des vides, des fractures, etc. En tant que telle, l'onde ultrasonique mesurée est un mélange complexe de ces réflexions. La détection de pailles, défauts, etc. peut s'exprimer par le signal en termes d'ensemble de fonctions de base. Prises ensemble, ces fonctions produisent le signal mesuré. Par ailleurs, ces fonctions de base peuvent être choisies de telle manière qu'un ensemble donné de telles fonctions caractérise la défaillance et /ou la défectuosité. Dans un mode de réalisation pris à titre d'exemple, les coefficients associés à la fonction de base peuvent être différents de zéro en présence d'une défectuosité. Ainsi, un défaut peut être détecté rapidement et automatiquement en tant que tel.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)