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1. (WO2003067184) PROCEDE ET DISPOSITIF OPTIQUES PERMETTANT D'EFFECTUER DES MESURES GEOMETRIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/067184    N° de la demande internationale :    PCT/EP2003/000897
Date de publication : 14.08.2003 Date de dépôt international : 29.01.2003
CIB :
G01B 11/10 (2006.01)
Déposants : AREA SISTEMI S.R.L. [IT/IT]; Corso Francia N° 1/Bis, I-10138 Torino (IT) (Tous Sauf US).
PIRINOLI, Enrico, Maria [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : PIRINOLI, Enrico, Maria; (IT)
Mandataire : ROBBA, Pierpaolo; Interpatent S.R.L., Via Caboto, 35, I-10129 Torino (IT)
Données relatives à la priorité :
02425052.4 04.02.2002 EP
Titre (EN) OPTICAL METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING GEOMETRICAL MEASUREMENTS
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF OPTIQUES PERMETTANT D'EFFECTUER DES MESURES GEOMETRIQUES
Abrégé : front page image
(EN)A light source (1) sends towards an object under test (5) a light beam (2) with such a size as to encompass the object (5). Past the object, the beam (2) is processed by an optical processing system (6), comprising a band-pass spatial filter (8) located in the Fourier Plane of a converging lens (7), the object (5) being located in the front focal plane of that lens. The filtered beam is collected by a detector (10) that generates an electrical signal representative of the intensity of the field distribution associated with that beam. A system (11) for processing the electrical signal comprises a band-pass filter (12) with temporal cut-off frequencies corresponding with the spatial cut-off frequencies of the spatial filter in the optical processing system (6) and obtains the value of the requested quantity form the electrical signal.
(FR)Selon cette invention, une source lumineuse (1) envoie en direction d'un objet soumis à un test (5) un faisceau lumineux (2) d'une taille telle que ce faisceau enveloppe l'objet (5). Après l'objet, le faisceau (2) est traité à l'aide d'un système de traitement optique (6) comprenant un filtre spatial passe-bande (8) situé dans le plan de Fourier d'une lentille convergente (7), l'objet (5) étant situé dans le plan focal frontal de cette lentille. Le faisceau filtré est recueilli par un détecteur (10) qui génère un signal électrique représentatif de l'intensité de la distribution de champ associée à ce faisceau. Un système (11) de traitement du signal électrique comprend un filtre passe-bande (12) avec des fréquences de coupure temporelles correspondant aux fréquences de coupure spatiales du filtre spatial du système de traitement optique (6), et permet d'obtenir la valeur de la quantité requise à partir du signal électrique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)