WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2003065062) PROCEDE DE MESURE DE DEPLACEMENT CAPACITIVE SANS CONTACT ET DE HAUTE PRECISION DE CIBLES FAIBLEMENT CONNECTEES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/065062    N° de la demande internationale :    PCT/US2003/002670
Date de publication : 07.08.2003 Date de dépôt international : 29.01.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    25.08.2003    
CIB :
G01B 7/00 (2006.01)
Déposants : ADE CORPORATION [US/US]; 80 Wilson Way, Westwood, MA 02090-1806 (US)
Inventeurs : MALLORY, Roy, E.; (US)
Mandataire : SCHURGIN, Stanley, M.; Weingarten, Schurgin, Gagnebin & Lebovici, LLP, Ten Post Office Square, Boston, MA 02109 (US)
Données relatives à la priorité :
60/352,827 30.01.2002 US
Titre (EN) METHOD FOR HIGH-ACCURACY NON-CONTACT CAPACITIVE DISPLACEMENT MEASUREMENT OF POORLY CONNECTED TARGETS
(FR) PROCEDE DE MESURE DE DEPLACEMENT CAPACITIVE SANS CONTACT ET DE HAUTE PRECISION DE CIBLES FAIBLEMENT CONNECTEES
Abrégé : front page image
(EN)A non-contact capacitive displacement measurement gage (500) that provides high accuracy displacement measurements of well-connected targets and poorly-connected targets. The capacitive displacement measurement gage (500) includes a capacitive probe (504), first and second amplifiers (540, 541), and a signal generator (510). The capacitive probe (500) includes a sensor electrode (507), a guard electrode (531), and a compensating electrode (530). The signal generator (510) provides a predetermined voltage signal. directly to the sensor electrode (507), to the guard electrode (531) through the first amplifier (540) having unity gain, and to the compensating electrode (530) through the second amplifier (541) having a predetermined transfer function. The second amplifier (541) assures that substantially zero current is driven into the target element by the probe during gage operation, thereby allowing highly accurate displacement measurements of target elements having unknown or poorly controlled impedance (508).
(FR)La présente invention concerne une jauge (500) de mesure de déplacement capacitive sans contact qui fournit des mesures de déplacement de haute précision de cibles bien connectées et de cibles faiblement connectées. Cette jauge (500) de mesure de déplacement capacitive comprend une sonde capacitive (504), un premier et un second amplificateur (540, 541) et un générateur de signal (510). La sonde capacitive (500) comprend une électrode palpeur (507), une électrode de garde (531) et une électrode de compensation (530). Le générateur de signal (510) fournit un signal de tension prédéterminé directement à l'électrode palpeur (507), à l'électrode de garde (531) via le premier amplificateur (540) à unité de gain, et à l'électrode de compensation (530) via le second amplificateur (541) à fonction de transfert prédéterminée. Le second amplificateur (541) fait en sorte qu'une tension sensiblement nulle soit conduite dans l'élément cible par la sonde pendant le fonctionnement de la jauge, ce qui permet des mesures de déplacement de haute précision d'éléments cible dont l'impédance (508) est inconnue ou faiblement commandée.
États désignés : CN, JP, SG.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)