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1. (WO2003064983) PROCEDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE FAISCEAUX LUMINEUX
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/064983    N° de la demande internationale :    PCT/GB2003/000330
Date de publication : 07.08.2003 Date de dépôt international : 28.01.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    26.08.2003    
CIB :
G01J 1/42 (2006.01), H01S 3/00 (2006.01)
Déposants : ADVANCED LASER SOLUTIONS LIMITED [GB/GB]; 5 Stone Cottages, Belle Vale Road, Gateacre, Liverpool L25 2QB (GB) (Tous Sauf US).
SPARKES, Martin, Roy [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
O'NEILL, William [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : SPARKES, Martin, Roy; (GB).
O'NEILL, William; (GB)
Mandataire : MARKS & CLERK; Tower Building, Water Street, Liverpool L3 1BA, Merseyside (GB)
Données relatives à la priorité :
0201916.4 29.01.2002 GB
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING LIGHT BEAMS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE FAISCEAUX LUMINEUX
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus and method for monitoring light beams comprising a reflector for passing at least partially through the beam to reflect a sample of the beam and at least one sensor arranged to receive the reflected beam sample for determining a characteristic of the beam sample. The reflector may be arranged to oscillate and the sensors may be arranged at substantially forty−five or ninety degrees to the axis of the incident beam.
(FR)L'invention se rapporte à un appareil et à un procédé de contrôle de faisceaux lumineux. Ledit appareil comprend un réflecteur permettant de traverser le faisceau au moins en partie, de façon à réfléchir un échantillon du faisceau, et au moins un capteur disposé de manière à recevoir l'échantillon de faisceau réfléchi, afin que soit déterminée une caractéristique de l'échantillon de faisceau. Le réflecteur peut être disposé de manière à osciller, et les capteurs peuvent être disposés à sensiblement 45 ou 90° par rapport à l'axe du faisceau incident.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)