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1. (WO2003017053) EXECUTION D'APPLICATION ACTIVEE PAR TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/017053    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/026034
Date de publication : 27.02.2003 Date de dépôt international : 15.08.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    13.03.2003    
CIB :
G06F 21/00 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; 5775 Morehouse Drive, San Diego, CA 92121 (US)
Inventeurs : CHMAYTELLI, Mazen; (US).
MINEAR, Brian; (US).
OLIVER, Mitchell, B.; (US).
LUNDBLADE, Laurence; (US)
Mandataire : WADSWORTH, Philip, R.; QUALCOMM Incorporated, 5775 Morehouse Drive, San Diego, CA 92121 (US)
Données relatives à la priorité :
60/312,675 15.08.2001 US
Titre (EN) TEST ENABLED APPLICATION EXECUTION
(FR) EXECUTION D'APPLICATION ACTIVEE PAR TEST
Abrégé : front page image
(EN)Testing system and method for executing an application on a wireless device (900) includes a management function for aiding the test−enable permissions (910) and for controlling the risk of providing a test environment associated with the testing applications.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés mettant en place des distribution et exécution d'application sûres et sécurisées et contrôlant le risque relatif à la fourniture d'un environnement de test associé au test d'applications. Des autorisations activées par test sont créées et distribuées à des entités de test d'application sélectionnées. Une fonction de gestion est mise en oeuvre afin de contribuer à la distribution des autorisations activées par test. Le risque est contrôlé par exécution d'un examen minutieux plus approfondi de l'identité de l'entité de test avant la distribution d'une autorisation activée par test à l'entité de test, par établissement de délais d'expiration associés aux autorisations activées par test et par limitation du nombre d'autorisations activées par test distribuées. La fonction de gestion suit la distribution des autorisations activées par test.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)