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1. (WO2003016930) MODULE D'ESSAI ET TESTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/016930    N° de la demande internationale :    PCT/JP2002/007410
Date de publication : 27.02.2003 Date de dépôt international : 23.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    31.01.2003    
CIB :
G01R 1/073 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 179-0071 (JP) (Tous Sauf US).
MAEDA, Yasuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAYANAGI, Fumikazu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MAEDA, Yasuhiro; (JP).
TAKAYANAGI, Fumikazu; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 6F, Toshin Building, 24-12, Shinjuku 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 160-0022 (JP)
Données relatives à la priorité :
2001-244161 10.08.2001 JP
Titre (EN) PROBE MODULE AND TESTER
(FR) MODULE D'ESSAI ET TESTEUR
Abrégé : front page image
(EN)A probe module being connected electrically with the terminal of a device under test and transmitting/receiving a signal to/from the device under test, comprising a first substrate, a probe pin provided on the first substrate to touch the terminal of the device under test, a first signal transmission pattern provided on the first substrate while having a gap not conducting an electric signal and being connected electrically with the probe pin, and a first switch means for shorting or opening the gap of the first signal transmission pattern.
(FR)La présente invention concerne un module d'essai relié électriquement à la borne d'un dispositif subissant un test et un signal de transmission/réception depuis/vers le dispositif testé, comportant un premier substrat, une borne de détection disposée sur le premier substrat pour être en contact avec la borne du dispositif testé, une première configuration de signaux de transmission est fournie sur le premier substrat présentant un entrefer non conducteur d'un signal électrique et étant électriquement relié à la borne de détection, et un premier moyen de commutation destiné à court-circuiter ou à couper l'entrefer de la première configuration de transmission de signaux.
États désignés : DE, JP, KR, US.
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)