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1. (WO2003016848) DETECTEUR DE CONTRAINTES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/016848    N° de la demande internationale :    PCT/JP2002/006509
Date de publication : 27.02.2003 Date de dépôt international : 27.06.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    25.11.2002    
CIB :
G01L 1/22 (2006.01), G01L 5/16 (2006.01), G01L 5/22 (2006.01)
Déposants : ELANTECH DEVICES CORPORATION [--/--]; 6F, No. 192-2, Lien Chang Rd., Chung-Ho City, Taipei Hsien (TW) (Tous Sauf US).
TERAOKA, Hideyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TERAOKA, Hideyuki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2001-242547 09.08.2001 JP
Titre (EN) STRESS SENSOR
(FR) DETECTEUR DE CONTRAINTES
Abrégé : front page image
(EN)A stress sensor which has a post (6) fixed to or integrated with the surface of an insulation substrate (1) and can determine the direction and magnitude of a stress applied to the post (6) from changes in the characteristics of a strain gauge (2) made by a stimulus to the strain gauge (2) caused by the stress, wherein a stress to the post (6) can be converted efficiently into changes in the characteristics of the strain gauge (2). Consequently, the stress sensor has a strain gauge (2)−disposed member provided with a locally−easy−to−deform portion where the strain gauge (2) is disposed. The stain gauge (2) is a resistance element (8) and is disposed on the surface of the insulation substrate (1), the insulation substrate mainly contains a resin material, and the easy−to−deform portion is preferably a thin−wall portion (7).
(FR)L'invention porte sur un détecteur de contraintes comportant un 'pilier' (6) posé ou fixé sur la surface d'un substrat isolant (1) et permettant de mesurer la direction et l'intensité d'une contrainte appliquée au pilier (6), à partir de modification des caractéristiques d'une jauge de contrainte (2) résultant de la stimulation de la jauge par la contrainte, ce qui permet de convertir la contrainte appliquée au pilier (6) en modification des caractéristiques de la jauge (2). Le détecteur présente un élément jouxtant la jauge comportant une partie facilement déformable là où la jauge (2) est disposée. La jauge (2) est constituée par une résistance (8) disposée à la surface d'un substrat isolant (1) principalement fait de résine, la partie (7) facilement déformable consistant de préférence en une paroi mince.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)